一種基于小型閃存的測試裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種測試裝置，尤其涉及一種基于小型閃存的測試裝置及方法。
【背景技術】
[0002]Nand Flash從芯片供應商出貨至各銷售渠道，等級差異很大，另外以次充好的現象比比皆是，Nand Flash的檢測設備一般只有大型企業(yè)才具備，而且設備體積龐大，操作復雜，測試效率低，不具有便攜性。對于企業(yè)而言，需要采購大量的測試設備來測試購買的Nand Flash芯片的品質，測試設備占用空間小、操作簡單、測試效率高，同時具備可靠性至關重要。針對Nand Flash芯片等級和壞塊測試，一種體積小、操作簡單、測試效率高的NandFlash檢測設備，能為Nand Flash的檢測提供較好的解決方案。
[0003]有鑒于上述的缺陷，本設計人，積極加以研究創(chuàng)新，以期創(chuàng)設一種新型結構的基于小型閃存的測試裝置，使其更具有產業(yè)上的利用價值。
【實用新型內容】
[0004]為解決上述技術問題，本實用新型的目的是提供一種基于小型閃存的測試裝置及方法。
[0005]為實現上述目的，本實用新型采用如下技術方案:
[0006]—種基于小型閃存的測試裝置，包括測試基座，所述測試基座上安裝有第一測試座和第二測試座，所述測試基座上還設置有閃存檢測控制單元，所述第一測試座的輸出端和第二測試座的輸出端都與閃存檢測控制單元的檢測端相連，所述閃存檢測控制單元的控制端與閃存測試模式配置單元輸入端相連，還與閃存型號配置單元的輸入端相連，還與閃存測試狀態(tài)指示單元的輸入端相連，并且還與閃存分類指示單元的輸入端相連，所述閃存檢測控制單元的反饋端與閃存測試模式配置單元的輸出端，還與閃存型號配置單元的輸出端相連，還與閃存測試狀態(tài)指示單元的輸出端相連，并且還與閃存分類指示單元的輸出端相連，所述閃存檢測控制單元的輸出端通過測試基座輸出單元與PC的輸入端相連。
[0007]再進一步地，所述的基于小型閃存的測試裝置，其中，所述第一測試座為薄型小尺寸封裝測試座。
[0008]更進一步地，所述的基于小型閃存的測試裝置，其中，所述第二測試座為焊球陣列封裝測試座。
[0009]再更進一步地，所述的基于小型閃存的測試裝置，其中，所述閃存測試模式配置單元、閃存型號配置單元、閃存測試狀態(tài)指示單元及閃存分類指示單元均為獨立的單元布置。
[0010]再更進一步地，所述的基于小型閃存的測試裝置，其中，所述測試基座輸出單元為USB接口。
[0011]再更進一步地，所述的基于小型閃存的測試裝置，其中，所述第一測試座和第二測試座為獨立的測試座布置。
[0012]再更進一步地，所述的基于小型閃存的測試裝置，其中，所述測試基座的長度范圍在10?15厘米，寬度范圍在6?8厘米，高度范圍在2?4厘米。
[0013]再更進一步地，所述的基于小型閃存的測試裝置，其中，所述測試基座的長度優(yōu)選為12厘米，寬度優(yōu)選為6.5厘米，高度優(yōu)選為2.5厘米。
[0014]一種基于小型閃存測試的方法，其特征在于，包括以下步驟:
[0015]S1:將未被檢測的閃存放置于第一測試座和/或第二測試座內；
[0016]S2:閃存檢測控制單元檢測到SI中放置的未被檢測的閃存；
[0017]S3:在經過S2后，閃存檢測控制單元中的控制端分別控制閃存測試模式配置單元、閃存型號配置單元、閃存測試狀態(tài)指示單元及閃存分類指示單元對未被檢測的閃存卡進行檢測；
[0018]S4:經過S3檢測后，閃存測試模式配置單元、閃存型號配置單元、閃存測試狀態(tài)指示單元及閃存分類指示單元各自的輸出端反饋到閃存檢測控制單元中間；
[0019]S5:通過S4中閃存檢測控制單元得到的反饋數據通過測試基座輸出單元傳輸至PC中；
[0020]S6:通過PC顯示被檢測的閃存的所有需要的數據。
[0021]進一步地，一種基于小型閃存測試的方法，其中，所述步驟S2同時檢測到第一測試座2和第二測試座3內的閃存時，以預先設定的程序對其中之一的第一測試座2或第二測試座3進彳丁先檢測。
[0022]借由上述方案，本實用新型至少具有以下優(yōu)點:
[0023]本實用新型將測試基座的尺寸變小，使之占用空間小，小區(qū)域內可以部署上百個測試裝置，同時具有極高的便攜性，方便使用者隨時能攜帶，提高檢測的工作效率，同時通過閃存檢測控制單元與閃存測試模式配置單元、閃存型號配置單元、閃存測試狀態(tài)指示單元及閃存分類指示單元之間的配合使用能及時的獲取閃存的具體數據，具備更高的可靠性;通過便攜式的裝置及可及時獲取的數據，使該裝置具備高效性，從而提高工作效率。
[0024]上述說明僅是本實用新型技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本實用新型的技術手段，并可依照說明書的內容予以實施，以下以本實用新型的較佳實施例并配合附圖詳細說明如后。
【附圖說明】
[0025]為了更清楚地說明本實用新型實施例的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，應當理解，以下附圖僅示出了本實用新型的某些實施例，因此不應被看作是對范圍的限定，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他相關的附圖。
[0026]圖1是本實用新型的結構不意圖；
[0027]圖2是本實用新型的連接關系圖。
【具體實施方式】
[0028]下面結合附圖和實施例，對本實用新型的【具體實施方式】作進一步詳細描述。以下實施例用于說明本實用新型，但不用來限制本實用新型的范圍。
[0029]為了使本技術領域的人員更好地理解本實用新型方案，下面將結合本實用新型實施例中附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。通常在此處附圖中描述和示出的本實用新型實施例的組件可以以各種不同的配置來布置和設計。因此，以下對在附圖中提供的本實用新型的實施例的詳細描述并非旨在限制要求保護的本實用新型的范圍，而是僅僅表示本實用新型的選定實施例?；诒緦嵱眯滦偷膶嵤├?，本領域技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。
[0030]實施例
[0031]如圖1、圖2所示，一種基于小型閃存的測試裝置，包括測試基座I，所述測試基座I上安裝有第一測試座2和第二測試座3，所述測試基座I上還設置有閃存檢測控制單元4，所述第一測試座2的輸出端和第二測試座3的輸出端都與閃存檢測控制單元4的檢測端相連，所述閃存檢測控制單元4的控制端與閃存測試模式配置單元5輸入端相連，還與閃存型號配置單元6的輸入端相連，還與閃存測試狀態(tài)指示單元7的輸入端相連，并且還與閃存分類指示單元8的輸入端相連，所述閃存檢測控制單元4的反饋端與閃存測試模式配置單元5的輸出端，還與閃存型號配置單元6的輸出端相連，還與閃存測試狀態(tài)指示單元7的輸出端相連，并且還與閃存分類指示單元8的輸出端相連，所述閃存檢測控制單元4的輸出端通過測試基座輸出單元9與PC的輸入端相連。通過閃存檢測控制單元與閃存測試模式配置單元、閃存型號配置單元、閃存測試狀態(tài)指示單元及閃存分類指示單元之間的配合使用能及時的獲取閃存的具體數據，具備更高的可靠性。
[0032]進一步的，所述閃存測試模式配置單元5、閃存型號配置單元6、閃存測試狀態(tài)指示單元7及閃存分類指示單元8均為獨立的單元布置，上述4個單元相互之間也不產生影響它們依據自行設定的程序對未被檢測的閃存卡進行檢測，并將其檢測后得到的數據反饋到閃存檢測控制單元4。
[0033]其中，所述測試基座輸出單元9為USB接口。
[0034]而所述測試基座I的長度優(yōu)選為