測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種測試裝置，尤其涉及一種能夠在電子產(chǎn)品主板進行測試時進行精 密對位的測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 電子產(chǎn)品以其方便、高效的優(yōu)點受到了人們的歡迎，在工業(yè)生產(chǎn)和家庭使用中都 能看到電子產(chǎn)品的身影。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中需要對各個部分的性能進行測試，以保證 產(chǎn)品合格，其中，主板作為電子產(chǎn)品中最重要的組成部分，其合格與否關(guān)系到產(chǎn)品的最終性 能?，F(xiàn)階段對主板的測試主要是將主板上的柔性電路手動插接到測試裝置，或者使用探針 連接主板上的電路或柔性電路的連接頭，以上測試方式都需要測試人員手動操作，在主板 集成度日益增大的今天，這樣的測試方法顯然已經(jīng)不能滿足生產(chǎn)的要求。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003] 有鑒于此，有必要提供一種能夠提高主板測試效率的測試裝置，以解決上述問題。
[0004] 一種測試裝置，用于對一主板進行測試，該主板上設(shè)有多個連接頭，每一連接頭上 均設(shè)有多個引腳，該測試裝置包括底座以及安裝于該底座上的測試部，該測試部包括： 活動部，該活動部包括上蓋板以及控制該上蓋板移動的氣缸； 固定部，該固定部包括： 下蓋板，該下蓋板上設(shè)有與所述主板形狀和大小相同的凹槽，該凹槽中設(shè)有多個貫穿 該下蓋板的第一開口； 固定板，該固定板在與所述下蓋板具有所述多個第一開口的位置一一對應(yīng)的設(shè)有多個 第二開口； 多個定位件，該多個定位件中每一定位件一端固定于所述固定板的第二開口中，另一 端穿過所述下蓋板的第一開口并收納于所述凹槽中，每一定位件設(shè)有多個通孔，每一通孔 中安裝有一探針； 所述上蓋板在所述氣缸的帶動下向靠近所述下蓋板的方向移動，并驅(qū)動所述下蓋板向 靠近所述固定板的方向移動，使所述探針一端與所述主板上連接頭的引腳接觸并電連接。
[0005] 本發(fā)明之測試裝置，所述主板在被所述上蓋板壓下時，所述探針即與該主板上連 接頭的引腳接觸并電連接，免去了人工連接的麻煩，提高了測試精度和生產(chǎn)效率。
【附圖說明】
[0006] 圖1為本發(fā)明一實施方式中的測試裝置的立體圖。
[0007] 圖2為圖1中測試部的分解圖。
[0008] 圖3為圖2中第一定位件的立體圖。
[0009] 圖4為圖2中第二定位件的立體圖。
[0010] 圖5為本發(fā)明中使用到的待測主板的立體圖。
[0011] 圖6為圖5中第一連接頭的立體圖。
[0012] 圖7為圖5中第二連接頭的立體圖。
[0013] 圖8為圖2中測試部與待測主板的組裝圖。
[0014] 圖9為圖8中測試部和待測主板沿I-I方向的部分剖視圖。
[0015] 主要元件符號說明
如下【具體實施方式】將結(jié)合上述附圖進一步說明本友明。
【具體實施方式】
[0016] 下面將結(jié)合附圖，對本發(fā)明作進一步的詳細說明。
[0017] 請一并參閱圖1和圖2,本發(fā)明提供了一種測試裝置100,該測試裝置100包括底 座10以及安裝于該底座10上的測試部20,該測試部20包括相對設(shè)置的活動部21和固定 部22。該活動部21包括固定于測試裝置100上的固定件210以及可相對于該固定件210 沿堅直方向移動的上蓋板211。在本實施方式中，活動部21 -側(cè)面上設(shè)有一氣缸2101，上 蓋板211上也設(shè)有滑竿2110,該滑竿2110插入氣缸2101中，進而由該氣缸2101控制上蓋 板211的移動。
[0018] 固定部22包括下蓋板220、固定板221、轉(zhuǎn)接電路板222和支撐座223,該下蓋板 220與上蓋板211的形狀和大小相同，該下蓋板220上設(shè)有第一凹槽2201，該第一凹槽2201 中開設(shè)有多個貫穿該下蓋板220的第一開口 2202。
[0019] 固定板221與下蓋板220的形狀和大小相同，該固定板221在與下蓋板220的第一 開口 2202的位置--對應(yīng)的設(shè)有多個第二開口 2210。該固定板221通過多個連接柱226 與下蓋板220連接，在本實施方式中，該多個連接柱226中每一連接桿上均套設(shè)有一彈簧， 使下蓋板220在上蓋板211的驅(qū)動下可相對于固定板221沿軸向上下移動。
[0020] 轉(zhuǎn)接電路板222固定于支撐座223上，該轉(zhuǎn)接電路板222與測試設(shè)備（圖未示）電 連接，以實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸。支撐座223上設(shè)有第二凹槽2230,該第二凹槽2230的形狀和大小 與轉(zhuǎn)接電路板222相同，該轉(zhuǎn)接電路板222通過多個螺釘固定于該第二凹槽2230內(nèi)。
[0021] 請一并參閱圖3和圖4,固定部22還包括多個第一定位件224和第二定位件225， 該第一定位件224和第二定位件225的數(shù)量總和與下蓋板220上第一開口 2202的數(shù)量相 同，且每個第一定位件224和每個第二定位件225的一端均固定于固定板221的第二開口 2210內(nèi)，另一端均穿過下蓋板220的第一開口 2202并收納于第一凹槽2201中。
[0022] 第一定位件224包括第一主體2241以及從該第一主體2241 -端延伸出的第一凸 出部2242,該第一凸出部2242在遠離第一主體2241的一端凸設(shè)有多個限位柱2243以及多 個貫穿該第一凸出部2242和第一主體2241的第一通孔2244。在本實施方式中，該多個限 位柱2243的數(shù)量為兩個，分別設(shè)置于第一凸出部2242的兩端，第一通孔2244設(shè)置于該兩 個限位柱2243之間。
[0023] 第一定位件224還包括多個探針2245,該多個探針2245的數(shù)量與第一通孔2244 的數(shù)量相同，且該多個探針2245中每一探針2245均一一對應(yīng)的安裝于第一通孔2244中。 在本實施方式中，每一探針2245包括外殼2246以及安裝于該外殼2246兩端的由金屬材料 制成的第一端部2247和第二端部2248,該第一端部2247和第二端部2248在外殼2246內(nèi) 通過一金屬彈簧（圖未示）連接，使該第一端部2247和第二端部2248可在外力的驅(qū)動下在 外殼2246內(nèi)沿軸向移動。
[0024] 第二定位件225包括第二主體2251以及從該第二主體2251 -端延伸出的第二凸 出部2252,該第二凸出部2252在遠離第二主體2251的一端凹設(shè)有一限位槽2253,該限位 槽2253的底面上設(shè)有多個第二通孔2254,每一第二通孔2254中均安裝有一探針2245。
[0025] 請一并參閱圖5、圖6和圖7,測試裝置100用于對一待測主板30進行測試，該待 測主板30的形狀和大小與下蓋板220上的第一凹槽2201相配合，該待測主板30上設(shè)有多 個第一連接頭31和第二連接頭32,其中每一第一連接頭31和每一第二連接頭32均與該待 測主板30電連接。該第一連接頭31在一側(cè)面上設(shè)有第三凹槽310,該第三凹槽310上凸設(shè) 有第三凸出部311。多個第一引腳312設(shè)置于該第一連接頭31上，每一第一引腳312 -端 與待測主板30電連接，另一端固定于第三凹槽310中。
[0026] 第二連接頭32在一側(cè)面上設(shè)有第四凹槽320,多個第二引腳321設(shè)置于第二連接 頭32上，每一第二引腳321 -端與待測主板30電連接，另一端固定于第四凹槽320的內(nèi)側(cè) 壁上。
[0027] 請一并參閱圖8和圖9,在對待測主板30進行測試時，先將待測主板30放入下蓋 板220的第一凹槽2201中，此時由于下蓋板220和固定板221之間連接柱226上的彈簧彈 力作用，該下蓋板220和固定板221之間具有一個較大的距離，同時探針2245 -端插接在 轉(zhuǎn)接電路板222上，另一端收納于下蓋板220的第一凹槽2201中。然后由氣缸2101控制 上蓋板211向下移動，并將下蓋板220向下壓，下蓋板220和待測主板30向靠近固定板221 的方向移動。直到下蓋板220抵持在第一定位件224的第一主體2241或第二定位件225 的第二主體2251上。此時探針2245收納于第一凹槽2201中的一端與第一連接頭31上的 第一引腳312或第二連接頭32上的第二引腳321接觸并電連接，使待測主板30與轉(zhuǎn)接電 路板222進行數(shù)據(jù)交換，以測試該待測主板30。
[0028] 本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當認識到，以上的實施方式僅是用來說明本發(fā)明， 而并非用作為對本發(fā)明的限定，只要在本發(fā)明的實質(zhì)精神范圍之內(nèi)，對以上實施方式所作 的適當改變和變化都落在本發(fā)明要求保護的范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1. 一種測試裝置，用于對一主板進行測試，該主板上設(shè)有多個連接頭，每一連接頭上均 設(shè)有多個引腳，其特征在于，該測試裝置包括底座以及安裝于該底座上的測試部，該測試部 包括： 活動部，該活動部包括上蓋板，該上蓋板在一氣缸的控制下移動； 固定部，該固定部包括： 下蓋板，該下蓋板上設(shè)有與所述主板形狀和大小相同的凹槽，用于承載所述主板于該 凹槽中，該凹槽中設(shè)有多個貫穿該下蓋板的第一開口； 固定板，該固定板上設(shè)有多個第二開口，該多個第二開口的位置與所述下蓋板上的多 個第一開口一一對應(yīng)； 多個定位件，該多個定位件中每一定位件一端固定于所述固定板的第二開口中，另一 端穿過所述下蓋板的第一開口并收納于所述凹槽中，每一定位件設(shè)有多個通孔，每一通孔 中安裝有一探針； 所述上蓋板在所述氣缸的帶動下向靠近所述下蓋板的方向移動，并驅(qū)動所述下蓋板向 靠近所述固定板的方向移動，使所述探針一端與所述主板上連接頭的引腳接觸并電連接。2. 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述多個定位件包括多個第一定位件 和多個第二定位件，該第一定位件包括第一主體以及從該第一主體上延伸出的第一凸出 部，該第一凸出部上設(shè)有兩個限位柱，所述多個通孔設(shè)于該兩個限位柱之間；所述第二定位 件包括第二主體以及從該第二主體延伸出的第二凸出部，該第二凸出部上設(shè)有一限位槽， 所述多個通孔設(shè)于該限位槽的底面上。3. 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述下蓋板和固定板之間通過多個連 接柱連接，每個連接柱上套設(shè)有一彈簧，使該下蓋板能夠在所述上蓋板的驅(qū)動下向靠近所 述固定板的方向移動。4. 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述探針包括外殼以及安裝于該外殼 兩端的兩端部，該兩端部在所述外殼內(nèi)通過一金屬彈簧連接，使該兩端部能夠在外力驅(qū)動 下在所述外殼內(nèi)沿軸向移動。5. 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述固定部還包括一轉(zhuǎn)接電路板，該轉(zhuǎn) 接電路板固定于所述底座上并與其他測試設(shè)備連接，所述主板在測試時，所述探針一端插 接在該轉(zhuǎn)接電路板上，另一端與所述連接頭的引腳接觸并電連接。
【專利摘要】一種測試裝置，用于對一主板進行測試，該主板上設(shè)有多個連接頭，每一連接頭上均設(shè)有多個引腳，該測試裝置包括底座以及安裝于該底座上的測試部，該測試部包括活動部和固定部，該活動部包括上蓋板以及控制該上蓋板移動的氣缸；該固定部包括下蓋板、固定板和多個定位件，該下蓋板上設(shè)有與所述主板形狀和大小相同的凹槽，所述定位件一端固定于所述固定板上，另一端穿過所述下蓋板并收納于所述凹槽內(nèi)，每一定位件上均安裝有多個探針，所述上蓋板在所述氣缸的帶動下向靠近所述下蓋板的方向移動，并驅(qū)動所述下蓋板向靠近所述固定板的方向移動，使所述探針一端與所述主板上連接頭的引腳接觸并電連接。
【IPC分類】G01R1/04, G01R31/00
【公開號】CN105093000
【申請?zhí)枴緾N201410212293
【發(fā)明人】劉宇青, 蘇柏霖, 楊富吉, 王志軍, 陳順東, 張利權(quán), 楊煒達, 康杰朋
【申請人】鴻富錦精密電子(鄭州)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司
【公開日】2015年11月25日
【申請日】2014年5月19日
【公告號】US20150331037