一種液晶面板缺陷的檢測(cè)方法及裝置的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種液晶面板缺陷的檢測(cè)方法及裝置，涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，用以在不改變?nèi)毕輩?shù)的情況下有效的檢測(cè)出液晶面板中的聚集類缺陷。本發(fā)明的方法包括：對(duì)液晶面板圖像進(jìn)行AOI處理；根據(jù)處理結(jié)果確定不符合缺陷參數(shù)要求的多個(gè)待處理目標(biāo)；將多個(gè)待處理目標(biāo)按照預(yù)定順序進(jìn)行排列，并獲取排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)中相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)之間的聚集度參數(shù)；將每個(gè)聚集度參數(shù)分別和預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較，得到多個(gè)比較結(jié)果；在多個(gè)比較結(jié)果中，若連續(xù)n個(gè)比較結(jié)果均為小于預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)且n大于或等于預(yù)設(shè)值，則將連續(xù)n個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷，其中n為自然數(shù)。本發(fā)明主要應(yīng)用在液晶面板的缺陷檢測(cè)技術(shù)中。
【專利說明】
一種液晶面板缺陷的檢測(cè)方法及裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種液晶面板缺陷的檢測(cè)方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]AOI(Automatic Optic Inspect1n，自動(dòng)光學(xué)檢測(cè))是基于光學(xué)原理來對(duì)制造業(yè)生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測(cè)的技術(shù)。
[0003]在液晶面板制造業(yè)中，可利用AOI設(shè)備對(duì)Panel(面板)進(jìn)彳丁檢測(cè)。在檢測(cè)時(shí)，首先對(duì)原始照片進(jìn)行圖像處理，然后對(duì)處理后的圖像進(jìn)行圖像分割，分離出目標(biāo)。再將目標(biāo)與缺陷參數(shù)(Defect Spec)(包括Size(尺寸)、Length(長(zhǎng)度)、Contrast(對(duì)比度)、SEMU(塞穆指標(biāo)))等進(jìn)行對(duì)比。符合缺陷參數(shù)要求的目標(biāo)會(huì)被AOI設(shè)備檢出，被認(rèn)為是缺陷。
[0004]但是，對(duì)于對(duì)比度很低、視認(rèn)性很差的聚集類缺陷，例如密集型的條紋Mura等，由于其特殊性，利用上述統(tǒng)一的缺陷參數(shù)是無法檢出的。但是，如果將缺陷參數(shù)收嚴(yán)，將會(huì)造成其他干擾因素被誤檢，例如吸盤痕跡、輕微的灰度不均等假不良，這樣將加大人工確認(rèn)的工作量。如果將缺陷參數(shù)放寬，又會(huì)造成缺陷漏檢。因此，如何有效的檢測(cè)出聚集類缺陷是相關(guān)研究人員的研究重點(diǎn)。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]有鑒于此，本發(fā)明提供一種液晶面板缺陷的檢測(cè)方法及裝置，用以在不改變?nèi)毕輩?shù)的情況下有效的檢測(cè)出液晶面板中的聚集類缺陷。
[0006]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種液晶面板缺陷的檢測(cè)方法，包括:
[0007]對(duì)液晶面板圖像進(jìn)行自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AOI處理；
[0008]根據(jù)處理結(jié)果確定不符合缺陷參數(shù)要求的多個(gè)待處理目標(biāo)；
[0009]將所述多個(gè)待處理目標(biāo)按照預(yù)定順序進(jìn)行排列，并獲取排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)中相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)之間的聚集度參數(shù);其中，所述預(yù)定順序?yàn)槎鄠€(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)依次增加的順序或者縱坐標(biāo)依次增加的順序；
[0010]將每個(gè)所述聚集度參數(shù)分別和預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較，得到多個(gè)比較結(jié)果；
[0011]在所述多個(gè)比較結(jié)果中，若連續(xù)η個(gè)比較結(jié)果均為小于所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)且η大于或等于預(yù)設(shè)值，則將連續(xù)η個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷，其中η為自然數(shù)。
[0012]其中，所述聚集度參數(shù)包括:橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)；
[0013]所述將所述多個(gè)待處理目標(biāo)按照預(yù)定順序進(jìn)行排列包括:
[0014]獲取多個(gè)待處理目標(biāo)的坐標(biāo)；
[0015]將所述多個(gè)待處理目標(biāo)按照預(yù)定順序進(jìn)行排列；
[0016]所述獲取排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)中相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)之間的聚集度參數(shù)，包括:
[0017]對(duì)于排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)，將相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)之差的絕對(duì)值作為所述相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)，將所述相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的縱坐標(biāo)之差的絕對(duì)值作為所述相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)。
[0018]其中，所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)包括:預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)；
[0019]所述將每個(gè)所述聚集度參數(shù)分別和預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較，得到多個(gè)比較結(jié)果，包括:
[0020]分別將每個(gè)聚集度參數(shù)中的橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和所述預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)、縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)和所述預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較，得到多個(gè)橫坐標(biāo)的比較結(jié)果和多個(gè)縱坐標(biāo)的比較結(jié)果。
[0021]其中，在所述多個(gè)比較結(jié)果中，若連續(xù)η個(gè)比較結(jié)果均為小于所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)且η大于或等于預(yù)設(shè)值，則將連續(xù)η個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷，包括:
[0022]在多個(gè)比較結(jié)果中，在連續(xù)η個(gè)比較結(jié)果中，若橫坐標(biāo)的比較結(jié)果和縱坐標(biāo)的比較結(jié)果均為小于所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)且η大于或等于預(yù)設(shè)值，則將連續(xù)η個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷。
[0023]其中，所述對(duì)液晶面板圖像進(jìn)行自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AOI處理包括:
[0024]對(duì)所述液晶面板圖像進(jìn)行去噪處理；
[0025]在去噪處理后的液晶面板圖像中，在以預(yù)設(shè)點(diǎn)為中心、預(yù)設(shè)大小的方塊圖像區(qū)域內(nèi)，將所述預(yù)設(shè)點(diǎn)的灰度值與所述方塊圖像區(qū)域預(yù)設(shè)方向上的像素點(diǎn)的灰度值進(jìn)行對(duì)比，獲得多個(gè)差異值；
[0026]從所述差異值中獲取大于或等于預(yù)設(shè)差異值的待處理差異值；
[0027]對(duì)所述待處理差異值對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)方向上的像素點(diǎn)進(jìn)行判定，獲取符合所述缺陷參數(shù)的目標(biāo)。
[0028]第二方面，本發(fā)明提供一種液晶面板缺陷的檢測(cè)裝置，包括:
[0029]自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)模塊，用于對(duì)液晶面板圖像進(jìn)行自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AOI處理；
[0030]待處理目標(biāo)確定模塊，用于根據(jù)處理結(jié)果確定不符合缺陷參數(shù)要求的多個(gè)待處理目標(biāo)；
[0031 ]聚集度參數(shù)獲取模塊，用于將所述多個(gè)待處理目標(biāo)按照預(yù)定順序進(jìn)行排列，并獲取排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)中相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)之間的聚集度參數(shù);其中，所述預(yù)定順序?yàn)槎鄠€(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)依次增加的順序或者縱坐標(biāo)依次增加的順序；
[0032]比較模塊，用于將每個(gè)所述聚集度參數(shù)分別和預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較，得到多個(gè)比較結(jié)果；
[0033]處理模塊，用于在所述多個(gè)比較結(jié)果中，若連續(xù)η個(gè)比較結(jié)果均為小于所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)且η大于或等于預(yù)設(shè)值，則將連續(xù)η個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷，其中η為自然數(shù)。
[0034]其中，所述聚集度參數(shù)包括:橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)；
[0035]所述聚集度參數(shù)獲取模塊包括:
[0036]坐標(biāo)獲取子模塊，用于獲取所述多個(gè)待處理目標(biāo)的坐標(biāo)；
[0037]排序子模塊，用于將所述多個(gè)待處理目標(biāo)按照預(yù)定順序進(jìn)行排列；
[0038]參數(shù)獲取子模塊，用于獲取排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)，其中橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)為相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)之差的絕對(duì)值，縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)為所述相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的縱坐標(biāo)之差的絕對(duì)值。
[0039]其中，所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)包括:預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)；
[0040]所述比較模塊具體用于:分別將每個(gè)聚集度參數(shù)中的橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和所述預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)、縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)和所述預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較，得到多個(gè)橫坐標(biāo)的比較結(jié)果和多個(gè)縱坐標(biāo)的比較結(jié)果。
[0041 ]其中，所述處理模塊具體用于:
[0042]在多個(gè)比較結(jié)果中，在連續(xù)η個(gè)比較結(jié)果中，若橫坐標(biāo)的比較結(jié)果和縱坐標(biāo)的比較結(jié)果均為小于所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)且η大于或等于預(yù)設(shè)值，則將連續(xù)η個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷。
[0043]其中，所述自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)模塊包括:
[0044]去噪處理子模塊，用于對(duì)所述液晶面板圖像進(jìn)行去噪處理；
[0045]對(duì)比子模塊，用于在去噪處理后的液晶面板圖像中，在以預(yù)設(shè)點(diǎn)為中心、預(yù)設(shè)大小的方塊圖像區(qū)域內(nèi)，將所述預(yù)設(shè)點(diǎn)的灰度值與所述方塊圖像區(qū)域預(yù)設(shè)方向上的像素點(diǎn)的灰度值進(jìn)行對(duì)比，獲得多個(gè)差異值；
[0046]閾值分割子模塊，用于從所述差異值中獲取大于或等于預(yù)設(shè)差異值的待處理差異值；
[0047]判定子模塊，用于對(duì)所述待處理差異值對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)方向上的像素點(diǎn)進(jìn)行判定，獲取符合所述缺陷參數(shù)的目標(biāo)。
[0048]本發(fā)明的上述技術(shù)方案的有益效果如下:
[0049]在本發(fā)明實(shí)施例中，在AOI處理的結(jié)果中確定不符合缺陷參數(shù)要求的多個(gè)待處理目標(biāo)，并獲得排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)中相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)之間的聚集度參數(shù)。通過對(duì)聚集度參數(shù)的分析來確定液晶面板的聚集類缺陷。由上可以看出，本發(fā)明實(shí)施例的方案是在AOI處理結(jié)果的基礎(chǔ)上的進(jìn)一步分析，因此，利用上述方案無需改變AOI處理的缺陷參數(shù)。同時(shí)，本方案中又可通過對(duì)聚集度參數(shù)進(jìn)行分析來確定液晶面板的聚集類缺陷。因而，利用本發(fā)明實(shí)施例的方案，在不改變?nèi)毕輩?shù)的情況下有效的檢測(cè)出液晶面板中的聚集類缺陷。
【附圖說明】
[0050]圖1為本發(fā)明實(shí)施例一的液晶面板缺陷的檢測(cè)方法的流程圖；
[0051 ]圖2為本發(fā)明實(shí)施例二的液晶面板缺陷的檢測(cè)方法的流程圖；
[0052]圖3為本發(fā)明實(shí)施例二中的待處理目標(biāo)的示意圖；
[0053]圖4為本發(fā)明實(shí)施例三的液晶面板缺陷的檢測(cè)裝置的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0054]下面將結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說明本發(fā)明，但不用來限制本發(fā)明的范圍。
[0055]如圖1所示，本發(fā)明實(shí)施例一的液晶面板缺陷的檢測(cè)方法，包括:
[0056]步驟101、對(duì)液晶面板圖像進(jìn)行AOI處理。
[0057]在此步驟中，Α0Ι處理的過程與現(xiàn)有技術(shù)中的相同，可包括如下過程:
[0058]首先，獲得液晶面板圖像并對(duì)該液晶面板圖像進(jìn)行去噪處理。在去噪處理后的液晶面板圖像中，在以預(yù)設(shè)點(diǎn)為中心、預(yù)設(shè)大小的方塊圖像區(qū)域內(nèi)，將所述預(yù)設(shè)點(diǎn)的灰度值與所述方塊圖像區(qū)域預(yù)設(shè)方向上的像素點(diǎn)的灰度值進(jìn)行對(duì)比，獲得多個(gè)差異值。然后，從所述差異值中獲取大于或等于預(yù)設(shè)差異值的待處理差異值，對(duì)所述待處理差異值對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)方向上的像素點(diǎn)的對(duì)比度等進(jìn)行判定，獲取符合所述缺陷參數(shù)的目標(biāo)。
[0059]其中，預(yù)設(shè)差異值可根據(jù)經(jīng)驗(yàn)設(shè)置。預(yù)設(shè)方向可以是預(yù)設(shè)點(diǎn)的上、下、左、右4個(gè)方向(4連通對(duì)比)，還可以是上、下、左、右、左上、右上、左下、右下等8個(gè)方向(8連通對(duì)比)。
[0060]步驟102、根據(jù)處理結(jié)果確定不符合缺陷參數(shù)要求的多個(gè)待處理目標(biāo)。
[0061]通過對(duì)液晶面板圖像進(jìn)行AOI處理，可獲得多個(gè)符合缺陷參數(shù)要求的目標(biāo)。在此，將其作為現(xiàn)有技術(shù)中液晶面板的缺陷檢出。而對(duì)于不符合缺陷參數(shù)要求的待處理目標(biāo)，其中有可能存在聚集類缺陷，因此，在本發(fā)明實(shí)施例中仍要對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)。因此，在此還要在AOI處理的基礎(chǔ)上獲得不符合缺陷參數(shù)要求的多個(gè)待處理目標(biāo)。
[0062]步驟103、將所述多個(gè)待處理目標(biāo)按照預(yù)定順序進(jìn)行排列，并獲取排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)中相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)之間的聚集度參數(shù)。
[0063]其中，所述預(yù)定順序?yàn)槎鄠€(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)依次增加的順序或者縱坐標(biāo)依次增加的順序。
[0064]在獲取多個(gè)待處理目標(biāo)后，可以任意一點(diǎn)為原點(diǎn)(可以是某個(gè)待處理目標(biāo)，也可以不是)建立χ-y坐標(biāo)系。因此，可根據(jù)建立的坐標(biāo)系獲取排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)的坐標(biāo)，然后將所述多個(gè)待處理目標(biāo)按照預(yù)定順序進(jìn)行排列。
[0065]為了提高準(zhǔn)確性，在本發(fā)明實(shí)施例中，所述聚集度參數(shù)包括:橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)。其中，橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)指的是在橫坐標(biāo)方向各個(gè)待處理目標(biāo)的聚集度情況，縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)指的是在縱坐標(biāo)方向各個(gè)待處理目標(biāo)的聚集度情況。
[0066]具體的，對(duì)于排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)，將相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)之差的絕對(duì)值作為所述相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)，將所述相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的縱坐標(biāo)之差的絕對(duì)值作為所述相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)。
[0067]步驟104、將每個(gè)所述聚集度參數(shù)分別和預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較，得到多個(gè)比較結(jié)果。
[0068]如前所述，在本發(fā)明實(shí)施例中，所述聚集度參數(shù)包括:橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)。那么相應(yīng)的，在此所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)包括:預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)，并且該兩個(gè)參數(shù)可根據(jù)實(shí)際經(jīng)驗(yàn)設(shè)定。
[0069]具體的，在此步驟中，則是分別將每個(gè)聚集度參數(shù)中的橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和所述預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)、縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)和所述預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較，得到多個(gè)橫坐標(biāo)的比較結(jié)果和多個(gè)縱坐標(biāo)的比較結(jié)果。
[0070]步驟105、在所述多個(gè)比較結(jié)果中，若連續(xù)η個(gè)比較結(jié)果均為小于所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)且η大于或等于預(yù)設(shè)值，則將連續(xù)η個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷，其中η為自然數(shù)。[0071 ]其中，該預(yù)設(shè)值可根據(jù)實(shí)際經(jīng)驗(yàn)設(shè)置。由于聚集度參數(shù)是相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的橫縱坐標(biāo)之差的絕對(duì)值，因此，每個(gè)聚集度參數(shù)對(duì)應(yīng)兩個(gè)待處理目標(biāo)。
[0072]在多個(gè)橫坐標(biāo)的比較結(jié)果和縱坐標(biāo)的比較結(jié)果中，從兩個(gè)結(jié)果的第一個(gè)結(jié)果開始判斷，判斷第一個(gè)橫坐標(biāo)的比較結(jié)果和第一個(gè)縱坐標(biāo)的結(jié)果是否都小于該預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)。若是，則將計(jì)數(shù)值加1(計(jì)數(shù)值初始值為O)。然后，對(duì)于后續(xù)的每個(gè)橫坐標(biāo)的比較結(jié)果和每個(gè)縱坐標(biāo)的比較結(jié)果按照順序都進(jìn)行上述判斷，直到某個(gè)橫坐標(biāo)的比較結(jié)果或某個(gè)縱坐標(biāo)的比較結(jié)果大于或等于該預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)，同時(shí)獲得此時(shí)的計(jì)數(shù)值。如果該計(jì)數(shù)值η大于或等于預(yù)設(shè)值，則將連續(xù)η個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷。
[0073]由上可以看出，本發(fā)明實(shí)施例的方案是在AOI處理結(jié)果的基礎(chǔ)上的進(jìn)一步分析，因此，利用上述方案無需改變AOI處理的缺陷參數(shù)。同時(shí)，本方案中又可通過對(duì)聚集度參數(shù)進(jìn)行分析來確定液晶面板的聚集類缺陷。因而，利用本發(fā)明實(shí)施例的方案，在不改變?nèi)毕輩?shù)的情況下有效的檢測(cè)出液晶面板中的聚集類缺陷。
[0074]以下，結(jié)合實(shí)施例二詳細(xì)描述一下本發(fā)明實(shí)施例的液晶面板缺陷的檢測(cè)方法。
[0075]如圖2所示，本發(fā)明第二實(shí)施例的液晶面板缺陷的檢測(cè)方法包括:
[0076]步驟201、對(duì)液晶面板圖像進(jìn)行AOI處理。
[0077]步驟202、根據(jù)處理結(jié)果確定不符合缺陷參數(shù)要求的多個(gè)待處理目標(biāo)。
[0078]在步驟201和202中，對(duì)液晶面板圖像進(jìn)行去噪處理等處理，將分離出的8連通目標(biāo)與預(yù)設(shè)的缺陷參數(shù)進(jìn)行對(duì)比。對(duì)于不符合缺陷參數(shù)要求的多個(gè)待處理目標(biāo)進(jìn)行后續(xù)的處理。
[0079]步驟203、將所述多個(gè)待處理目標(biāo)按照預(yù)定順序進(jìn)行排列，并獲取排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)中相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)之間的聚集度參數(shù)。
[0080]以任意一點(diǎn)為原點(diǎn)建立坐標(biāo)系，并獲得在此坐標(biāo)系下各個(gè)待處理目標(biāo)的坐標(biāo)。在此，以橫坐標(biāo)由小到大的順序?qū)Ω鱾€(gè)待處理目標(biāo)進(jìn)行排序。對(duì)于排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)，將相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)之差的絕對(duì)值作為所述相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)，將所述相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的縱坐標(biāo)之差的絕對(duì)值作為所述相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)。
[0081 ]假設(shè)，在此步驟中獲得的m個(gè)待處理目標(biāo)的坐標(biāo)分別為:m、n2、…nm，其坐標(biāo)按X向遞加排列，分別為(11，71)、(12，72)"七111，7111)』向坐標(biāo)組成的數(shù)列定義為父={χ?，Χ2，...Χιιι}，其差分算子Axm= |Xm+1-Xm|，應(yīng)用這個(gè)算子，從原數(shù)列X構(gòu)成一個(gè)新的數(shù)列，即相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)構(gòu)成的數(shù)列ΛΧ= {Λχι，Ax2，…厶化―!}。
[0082]同理，相應(yīng)的Y向坐標(biāo)組成的數(shù)列定義為Y={yi，y2，‘"ym}，其差分算子Aym =ym+1-ym I，應(yīng)用這個(gè)算子，從原數(shù)列Y構(gòu)成一個(gè)新的數(shù)列，即相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)構(gòu)成的數(shù)列ΛΥ= {Ayi，Ay2，…Aym-1}。
[0083]步驟204、將每個(gè)所述聚集度參數(shù)分別和預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較，得到多個(gè)比較結(jié)果。
[0084]對(duì)于步驟203中獲得的數(shù)列ΛΧ和數(shù)列ΛΥ，將數(shù)列中的每個(gè)值按照在數(shù)列中的順序分別和預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)、預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較。其中，所述預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)、預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)的值可以設(shè)置為相同，也可設(shè)置為不同。在本發(fā)明實(shí)施例中，假設(shè)預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)相同，用R表示。
[0085]具體的，在此步驟中，將數(shù)列ΛΧ中的值按照在數(shù)列中的順序和R進(jìn)行比較，得到多個(gè)比較結(jié)果，將其稱為第一結(jié)果數(shù)列;將數(shù)列ΛΥ中的值按照在數(shù)列中的順序和R進(jìn)行比較，得到多個(gè)比較結(jié)果，在此將其稱為第二結(jié)果數(shù)列。
[0086]步驟205、對(duì)多個(gè)比較結(jié)果進(jìn)行判斷，確定液晶面板的聚集類缺陷。
[0087]具體的，在所述多個(gè)比較結(jié)果中，若連續(xù)η個(gè)比較結(jié)果均為小于所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)且η大于或等于預(yù)設(shè)值，則將連續(xù)η個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷，其中η為自然數(shù)。
[0088]其中，預(yù)設(shè)值可根據(jù)實(shí)際經(jīng)驗(yàn)設(shè)置，在此用C表示。
[0089]對(duì)于步驟204中的第一結(jié)果數(shù)列和第二結(jié)果數(shù)列中的多個(gè)結(jié)果，分別從兩個(gè)數(shù)列中的第一個(gè)結(jié)果開始，若兩個(gè)數(shù)列中的第一結(jié)果均為小于R，則將計(jì)數(shù)值η(η從O開始)加I。按照這種方式，將兩個(gè)數(shù)列中的每個(gè)結(jié)果都進(jìn)行上述判定，直到某個(gè)數(shù)列中的任意一個(gè)結(jié)果大于或等于R，同時(shí)獲得此時(shí)的計(jì)數(shù)值η。
[0090]將計(jì)數(shù)值η和C進(jìn)行比較，若η大于或等于C，則可將η個(gè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)或者η個(gè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷。例如，假設(shè)第一結(jié)果數(shù)列和第二結(jié)果數(shù)列中第一個(gè)到第三個(gè)比較結(jié)果滿足上述條件，由于每個(gè)比較結(jié)果都是由橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)、縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)和預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較獲得的，而橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)或縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)又是由相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)或縱坐標(biāo)計(jì)算獲得，因此，可將第一個(gè)到第三個(gè)比較結(jié)果對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)，也即第一個(gè)到第三個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷。
[0091 ]例如，如圖3所示，按X坐標(biāo)由小到大的順序排列后的待處理目標(biāo)m-m中，相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)構(gòu)成的數(shù)列和相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)構(gòu)成的數(shù)列分別為厶父=(1，3，2，0，10，11)，厶￥=(2，1，1，2，3，13)。若1? = 5< = 3，可知111-114的差分八叉1，八71、八叉2，八72、八叉3，八73、八叉4，八74符合條件:八叉11〈1?且八5^〈1?，且連續(xù)出現(xiàn)的次數(shù)4次，即計(jì)數(shù)值n = 4>C，故m-n4符合“聚集”的特征，在此將其作為液晶面板的聚集類缺陷。
[0092]由上可以看出，本發(fā)明實(shí)施例的方案是在AOI處理結(jié)果的基礎(chǔ)上的進(jìn)一步分析，因此，利用上述方案無需改變AOI處理的缺陷參數(shù)。同時(shí)，本方案中又可通過對(duì)聚集度參數(shù)進(jìn)行分析來確定液晶面板的聚集類缺陷。因而，利用本發(fā)明實(shí)施例的方案，在不改變?nèi)毕輩?shù)的情況下有效的檢測(cè)出液晶面板中的聚集類缺陷。
[0093]如圖4所示，本發(fā)明實(shí)施例三的液晶面板缺陷的檢測(cè)裝置，包括:
[0094]自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)模塊401，用于對(duì)液晶面板圖像進(jìn)行自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AOI處理；
[0095]待處理目標(biāo)確定模塊402，用于根據(jù)處理結(jié)果確定不符合缺陷參數(shù)要求的多個(gè)待處理目標(biāo)；
[0096]聚集度參數(shù)獲取模塊403，用于將所述多個(gè)待處理目標(biāo)按照預(yù)定順序進(jìn)行排列，并獲取排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)中相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)之間的聚集度參數(shù);其中，所述預(yù)定順序?yàn)槎鄠€(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)依次增加的順序或者縱坐標(biāo)依次增加的順序；
[0097]比較模塊404，用于將每個(gè)所述聚集度參數(shù)分別和預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較，得到多個(gè)比較結(jié)果；
[0098]處理模塊405，用于在所述多個(gè)比較結(jié)果中，若連續(xù)η個(gè)比較結(jié)果均為小于所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)且η大于或等于預(yù)設(shè)值，則將連續(xù)η個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷，其中η為自然數(shù)。
[0099]具體的，所述自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)模塊401包括:
[0100]去噪處理子模塊，用于對(duì)所述液晶面板圖像進(jìn)行去噪處理;對(duì)比子模塊，用于在去噪處理后的液晶面板圖像中，在以預(yù)設(shè)點(diǎn)為中心、預(yù)設(shè)大小的方塊圖像區(qū)域內(nèi)，將所述預(yù)設(shè)點(diǎn)的灰度值與所述方塊圖像區(qū)域預(yù)設(shè)方向上的像素點(diǎn)的灰度值進(jìn)行對(duì)比，獲得多個(gè)差異值;閾值分割子模塊，用于從所述差異值中獲取大于或等于預(yù)設(shè)差異值的待處理差異值;判定子模塊，用于對(duì)所述待處理差異值對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)方向上的像素點(diǎn)進(jìn)行判定，獲取符合所述缺陷參數(shù)的目標(biāo)。
[0101]其中，所述聚集度參數(shù)包括:橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)。所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)包括:預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)。
[0102]具體的，所述聚集度參數(shù)獲取模塊403包括:坐標(biāo)獲取子模塊，用于獲取所述多個(gè)待處理目標(biāo)的坐標(biāo);排序子模塊，用于將所述多個(gè)待處理目標(biāo)按照預(yù)定順序進(jìn)行排列;參數(shù)獲取子模塊，用于獲取排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)，其中橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)為相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)之差的絕對(duì)值，縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)為所述相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的縱坐標(biāo)之差的絕對(duì)值。
[0103]具體的，所述比較模塊404具體用于:分別將每個(gè)聚集度參數(shù)中的橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和所述預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)、縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)和所述預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較，得到多個(gè)橫坐標(biāo)的比較結(jié)果和多個(gè)縱坐標(biāo)的比較結(jié)果。
[0104]具體的，所述處理模塊405具體用于:在多個(gè)比較結(jié)果中，在連續(xù)η個(gè)比較結(jié)果中，若橫坐標(biāo)的比較結(jié)果和縱坐標(biāo)的比較結(jié)果均為小于所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)且η大于或等于預(yù)設(shè)值，則將連續(xù)η個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷。
[0105]本發(fā)明實(shí)施例裝置的工作原理可參照前述方法實(shí)施例的描述。
[0106]由上可以看出，本發(fā)明實(shí)施例的方案是在AOI處理結(jié)果的基礎(chǔ)上的進(jìn)一步分析，因此，利用上述方案無需改變AOI處理的缺陷參數(shù)。同時(shí)，本方案中又可通過對(duì)聚集度參數(shù)進(jìn)行分析來確定液晶面板的聚集類缺陷。因而，利用本發(fā)明實(shí)施例的方案，在不改變?nèi)毕輩?shù)的情況下有效的檢測(cè)出液晶面板中的聚集類缺陷。
[0107]以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明所述原理的前提下，還可以作出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種液晶面板缺陷的檢測(cè)方法，其特征在于，包括: 對(duì)液晶面板圖像進(jìn)行自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AOI處理； 根據(jù)處理結(jié)果確定不符合缺陷參數(shù)要求的多個(gè)待處理目標(biāo)； 將所述多個(gè)待處理目標(biāo)按照預(yù)定順序進(jìn)行排列，并獲取排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)中相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)之間的聚集度參數(shù);其中，所述預(yù)定順序?yàn)槎鄠€(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)依次增加的順序或者縱坐標(biāo)依次增加的順序； 將每個(gè)所述聚集度參數(shù)分別和預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較，得到多個(gè)比較結(jié)果； 在所述多個(gè)比較結(jié)果中，若連續(xù)η個(gè)比較結(jié)果均為小于所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)且η大于或等于預(yù)設(shè)值，則將連續(xù)η個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷，其中η為自然數(shù)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述聚集度參數(shù)包括:橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)； 所述將所述多個(gè)待處理目標(biāo)按照預(yù)定順序進(jìn)行排列包括: 獲取所述多個(gè)待處理目標(biāo)的坐標(biāo)； 將所述多個(gè)待處理目標(biāo)按照預(yù)定順序進(jìn)行排列； 所述獲取排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)中相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)之間的聚集度參數(shù)，包括: 對(duì)于排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)，將相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)之差的絕對(duì)值作為所述相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)，將所述相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的縱坐標(biāo)之差的絕對(duì)值作為所述相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)包括:預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)； 所述將每個(gè)所述聚集度參數(shù)分別和預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較，得到多個(gè)比較結(jié)果，包括: 分別將每個(gè)聚集度參數(shù)中的橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和所述預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)、縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)和所述預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較，得到多個(gè)橫坐標(biāo)的比較結(jié)果和多個(gè)縱坐標(biāo)的比較結(jié)果。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，在所述多個(gè)比較結(jié)果中，若連續(xù)η個(gè)比較結(jié)果均為小于所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)且η大于或等于預(yù)設(shè)值，則將連續(xù)η個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷，包括: 在多個(gè)比較結(jié)果中，在連續(xù)η個(gè)比較結(jié)果中，若橫坐標(biāo)的比較結(jié)果和縱坐標(biāo)的比較結(jié)果均為小于所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)且η大于或等于預(yù)設(shè)值，則將連續(xù)η個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷。5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，所述對(duì)液晶面板圖像進(jìn)行自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AOI處理包括: 對(duì)所述液晶面板圖像進(jìn)行去噪處理； 在去噪處理后的液晶面板圖像中，在以預(yù)設(shè)點(diǎn)為中心、預(yù)設(shè)大小的方塊圖像區(qū)域內(nèi)，將所述預(yù)設(shè)點(diǎn)的灰度值與所述方塊圖像區(qū)域預(yù)設(shè)方向上的像素點(diǎn)的灰度值進(jìn)行對(duì)比，獲得多個(gè)差異值； 從所述差異值中獲取大于或等于預(yù)設(shè)差異值的待處理差異值； 對(duì)所述待處理差異值對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)方向上的像素點(diǎn)進(jìn)行判定，獲取符合所述缺陷參數(shù)的目標(biāo)。6.一種液晶面板缺陷的檢測(cè)裝置，其特征在于，包括: 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)模塊，用于對(duì)液晶面板圖像進(jìn)行自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AOI處理； 待處理目標(biāo)確定模塊，用于根據(jù)處理結(jié)果確定不符合缺陷參數(shù)要求的多個(gè)待處理目標(biāo)； 聚集度參數(shù)獲取模塊，用于將所述多個(gè)待處理目標(biāo)按照預(yù)定順序進(jìn)行排列，并獲取排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)中相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)之間的聚集度參數(shù);其中，所述預(yù)定順序?yàn)槎鄠€(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)依次增加的順序或者縱坐標(biāo)依次增加的順序； 比較模塊，用于將每個(gè)所述聚集度參數(shù)分別和預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較，得到多個(gè)比較結(jié)果； 處理模塊，用于在所述多個(gè)比較結(jié)果中，若連續(xù)η個(gè)比較結(jié)果均為小于所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)且η大于或等于預(yù)設(shè)值，則將連續(xù)η個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷，其中η為自然數(shù)。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述聚集度參數(shù)包括:橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)； 所述聚集度參數(shù)獲取模塊包括: 坐標(biāo)獲取子模塊，用于獲取所述多個(gè)待處理目標(biāo)的坐標(biāo)； 排序子模塊，用于將所述多個(gè)待處理目標(biāo)按照預(yù)定順序進(jìn)行排列； 參數(shù)獲取子模塊，用于獲取排列后的多個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)，其中橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)為相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的橫坐標(biāo)之差的絕對(duì)值，縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)為所述相鄰兩個(gè)待處理目標(biāo)的縱坐標(biāo)之差的絕對(duì)值。8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)包括:預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)； 所述比較模塊具體用于:分別將每個(gè)聚集度參數(shù)中的橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)和所述預(yù)設(shè)橫坐標(biāo)聚集度參數(shù)、縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)和所述預(yù)設(shè)縱坐標(biāo)聚集度參數(shù)進(jìn)行比較，得到多個(gè)橫坐標(biāo)的比較結(jié)果和多個(gè)縱坐標(biāo)的比較結(jié)果。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述處理模塊具體用于: 在多個(gè)比較結(jié)果中，在連續(xù)η個(gè)比較結(jié)果中，若橫坐標(biāo)的比較結(jié)果和縱坐標(biāo)的比較結(jié)果均為小于所述預(yù)設(shè)聚集度參數(shù)且η大于或等于預(yù)設(shè)值，則將連續(xù)η個(gè)聚集度參數(shù)所對(duì)應(yīng)的待處理目標(biāo)作為液晶面板的聚集類缺陷。10.根據(jù)權(quán)利要求6-9任一所述的裝置，其特征在于，所述自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)模塊包括: 去噪處理子模塊，用于對(duì)所述液晶面板圖像進(jìn)行去噪處理； 對(duì)比子模塊，用于在去噪處理后的液晶面板圖像中，在以預(yù)設(shè)點(diǎn)為中心、預(yù)設(shè)大小的方塊圖像區(qū)域內(nèi)，將所述預(yù)設(shè)點(diǎn)的灰度值與所述方塊圖像區(qū)域預(yù)設(shè)方向上的像素點(diǎn)的灰度值進(jìn)行對(duì)比，獲得多個(gè)差異值； 閾值分割子模塊，用于從所述差異值中獲取大于或等于預(yù)設(shè)差異值的待處理差異值；判定子模塊，用于對(duì)所述待處理差異值對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)方向上的像素點(diǎn)進(jìn)行判定，獲取符合所述缺陷參數(shù)的目標(biāo)。
【文檔編號(hào)】G02F1/13GK106054421SQ201610608741
【公開日】2016年10月26日
【申請(qǐng)日】2016年7月28日
【發(fā)明人】劉杰, 邊征, 蘇建兵, 梁開杰, 劉淑媛, 孫桐波, 陳思洋
【申請(qǐng)人】京東方科技集團(tuán)股份有限公司, 北京京東方顯示技術(shù)有限公司