一種綜合測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明一種綜合測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法，不僅能夠?qū)Σ煌瑱C(jī)型進(jìn)行測(cè)試，而且可以同時(shí)對(duì)多臺(tái)設(shè)備進(jìn)行自檢測(cè)，對(duì)于不同待測(cè)試設(shè)備功能相似的信號(hào)，測(cè)試設(shè)備滿足最大化需求配置，不同設(shè)備的相同信號(hào)共用一個(gè)信號(hào)源，分別送入待測(cè)設(shè)備，但輸入電流型模擬信號(hào)的測(cè)試除外，輸入電流型模擬信號(hào)采用獨(dú)立的信號(hào)源；其它各自不同的信號(hào)也采用獨(dú)立的信號(hào)源分別單獨(dú)送到不同的機(jī)器，因?yàn)楣残盘?hào)的存在使得不同機(jī)器在占用測(cè)試資源時(shí)必須互斥，在同一時(shí)刻只能有一種機(jī)器在線測(cè)試。本發(fā)明通過(guò)對(duì)不同類(lèi)型機(jī)器采用分線測(cè)試的方法，不同類(lèi)型機(jī)器所需的相同信號(hào)使用同一個(gè)信號(hào)源，該信號(hào)源通過(guò)分線的形式進(jìn)入各機(jī)器，具有充分利用資源的特點(diǎn)。
【專(zhuān)利說(shuō)明】一種綜合測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于計(jì)算機(jī)測(cè)試【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種可對(duì)多種機(jī)型進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著電子技術(shù)和信息技術(shù)的發(fā)展，測(cè)試設(shè)備已經(jīng)廣泛應(yīng)用于武器裝備、航空航天產(chǎn)品的生產(chǎn)、測(cè)試、維修和維護(hù)領(lǐng)域，測(cè)試設(shè)備在產(chǎn)品研制、生產(chǎn)及維修環(huán)節(jié)發(fā)揮著舉足輕重的作用。
[0003]目前對(duì)計(jì)算機(jī)的測(cè)試采用一對(duì)一，一種測(cè)試設(shè)備只能測(cè)試一種機(jī)型的待測(cè)試設(shè)備，而且一臺(tái)測(cè)試設(shè)備在同一時(shí)刻只與一臺(tái)計(jì)算機(jī)連接，一臺(tái)計(jì)算機(jī)測(cè)試完畢后，再對(duì)另外一臺(tái)計(jì)算機(jī)進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試效率低。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0004]為解決現(xiàn)有測(cè)試設(shè)備測(cè)試效率低的技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供一綜合測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法，可對(duì)多種機(jī)型的待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。
[0005]本發(fā)明的技術(shù)解決方案是:
[0006]一種綜合測(cè)試系統(tǒng)，包括控制機(jī)、數(shù)據(jù)采集單元、接口卡、電源，
[0007]其特殊之處在于:還包括分線系統(tǒng)和多個(gè)繼電器陣列，所述控制機(jī)通過(guò)其內(nèi)部的總線系統(tǒng)分別與數(shù)據(jù)采集單元和接口卡連接，所述數(shù)據(jù)采集單元和接口卡分別通過(guò)分線系統(tǒng)與多個(gè)繼電器陣列連接，所述繼電器陣列用于控制分線系統(tǒng)與待測(cè)試設(shè)備之間信號(hào)的通斷。
[0008]上述數(shù)據(jù)采集單元為離散量輸出卡、模擬量輸出卡、離散量采集卡、模擬量采集卡之一或其組合。
[0009]上述電源為可程控電源，所述可程控電源的輸入端與控制機(jī)連接，所述可程控電源的輸出端與分線系統(tǒng)連接。
[0010]上述測(cè)試系統(tǒng)還包括與總線系統(tǒng)連接的可程控?cái)?shù)字表。
[0011]上述綜合測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法，包括以下步驟:
[0012]1】測(cè)試系統(tǒng)上電并初始化；
[0013]2】測(cè)試系統(tǒng)自檢測(cè)；
[0014]如果測(cè)試系統(tǒng)自檢測(cè)合格，進(jìn)入步驟3】;如果測(cè)試系統(tǒng)自檢測(cè)不合格，重新自檢測(cè)或下電；
[0015]3】待測(cè)試設(shè)備信號(hào)測(cè)試；
[0016]其特征在于:
[0017]所述步驟3】具體包括以下步驟:
[0018]3.1】選擇待測(cè)機(jī)型；
[0019]3.2】對(duì)選定機(jī)型的待測(cè)試設(shè)備利用測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行信號(hào)測(cè)試，每種機(jī)型的待測(cè)試設(shè)備根據(jù)其測(cè)試需求，選擇輸入離散信號(hào)、輸入電壓型模擬信號(hào)、輸入電流型模擬信號(hào)、各種輸出信號(hào)中的一種或幾種信號(hào)進(jìn)行逐項(xiàng)測(cè)試，直至將該種機(jī)型的所有待測(cè)試設(shè)備測(cè)完，[0020]3.3】測(cè)試完畢后，回到步驟3.1】或下電；
[0021]所述步驟3.2】中所述的待測(cè)試設(shè)備信號(hào)的具體測(cè)試方法如下:
[0022]a]待測(cè)試設(shè)備輸入離散信號(hào)的測(cè)試:
[0023]主控機(jī)發(fā)送指令信息給離散量輸出卡，離散量輸出卡產(chǎn)生離散信號(hào)，所產(chǎn)生的離散量信號(hào)通過(guò)分線系統(tǒng)進(jìn)入所選擇的待測(cè)機(jī)，對(duì)該臺(tái)機(jī)器進(jìn)行測(cè)試，
[0024]b】待測(cè)試設(shè)備輸入電壓型模擬信號(hào)的測(cè)試:
[0025]主控機(jī)發(fā)送指令信息給模擬量輸出卡，模擬量輸出卡產(chǎn)生相應(yīng)的電壓型模擬信號(hào)，所產(chǎn)生的電壓型模擬信號(hào)通過(guò)分線系統(tǒng)進(jìn)入所選擇的待測(cè)機(jī)，
[0026]C】待測(cè)試設(shè)備輸入電流型模擬信號(hào)的測(cè)試:
[0027]主控機(jī)發(fā)送指令信息給模擬量輸出卡，模擬量輸出卡產(chǎn)生相應(yīng)的電流型模擬信號(hào)，所產(chǎn)生的電流型模擬信號(hào)通過(guò)分線系統(tǒng)進(jìn)入所選擇的待測(cè)機(jī)，對(duì)該臺(tái)機(jī)器進(jìn)行測(cè)試；
[0028]d]待測(cè)試設(shè)備輸出信號(hào)的測(cè)試:
[0029]選定的待測(cè)試設(shè)備產(chǎn)生各種輸出信號(hào)通過(guò)數(shù)據(jù)采集單元傳遞給主控機(jī)，主控機(jī)對(duì)輸出信號(hào)進(jìn)行判別。
[0030]在進(jìn)行步驟3.2】的測(cè)試時(shí)，對(duì)一臺(tái)待測(cè)試設(shè)備利用測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試，也可同時(shí)對(duì)同種機(jī)型的多臺(tái)待測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，對(duì)未受測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試的待測(cè)設(shè)備可進(jìn)行自檢，如果待測(cè)試設(shè)備在自檢過(guò)程中發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，則在對(duì)選定待測(cè)試設(shè)備測(cè)試完畢后，測(cè)試系統(tǒng)對(duì)自檢過(guò)程中出現(xiàn)問(wèn)題的待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，直至將該種機(jī)型的所有待測(cè)試設(shè)備測(cè)完，回到步驟3.1】。
[0031 ] 本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，有益效果是:
[0032]1、本發(fā)明不僅能夠?qū)Σ煌瑱C(jī)型進(jìn)行測(cè)試，而且可以同時(shí)對(duì)多臺(tái)設(shè)備進(jìn)行自檢測(cè)，解決批生產(chǎn)階段調(diào)試、試驗(yàn)環(huán)節(jié)的瓶頸問(wèn)題。
[0033]2、本發(fā)明通過(guò)對(duì)不同類(lèi)型機(jī)器采用分線測(cè)試的方法，不同類(lèi)型機(jī)器所需的相同信號(hào)使用同一個(gè)信號(hào)源，該信號(hào)源通過(guò)分線的形式進(jìn)入各機(jī)器；具有充分利用資源的特點(diǎn)。
【專(zhuān)利附圖】
【附圖說(shuō)明】
[0034]圖1為本發(fā)明綜合測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖；
[0035]圖2為本發(fā)明測(cè)試流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0036]下面以三種不同類(lèi)型計(jì)算機(jī)(X/Y/Z機(jī)型)為例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明，任一類(lèi)型計(jì)算機(jī)有3臺(tái)、測(cè)試信號(hào)為輸入離散信號(hào)、輸入電壓型模擬信號(hào)、輸入電流型模擬信號(hào)和各種輸出信號(hào)。
[0037]對(duì)于X/Y/Z三種待測(cè)試設(shè)備功能相似的信號(hào)，測(cè)試設(shè)備滿足最大化需求配置，三種設(shè)備的相同信號(hào)共用同一個(gè)信號(hào)源，分三組線分別送入X/Y/Z計(jì)算機(jī)，但輸入電流型模擬信號(hào)的測(cè)試除外，輸入電流型模擬信號(hào)采用獨(dú)立的信號(hào)源；其它各自不同的信號(hào)也采用獨(dú)立的信號(hào)源分別單獨(dú)送到不同的機(jī)器，因?yàn)楣残盘?hào)的存在使得三種機(jī)器在占用測(cè)試資源時(shí)必須互斥，在同一時(shí)刻只能有一種機(jī)器在線測(cè)試。
[0038]當(dāng)對(duì)X/Y/Z計(jì)算機(jī)的一種機(jī)型的離散信號(hào)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，離散信號(hào)的一拖三測(cè)試采用線與的分線方法，每個(gè)輸入離散信號(hào)分別連接到同一機(jī)型的三臺(tái)不同機(jī)器的輸入口，對(duì)正在接受測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試的設(shè)備可測(cè)到其對(duì)應(yīng)的離散量值，對(duì)自檢的設(shè)備不會(huì)產(chǎn)生影響。
[0039]當(dāng)對(duì)X/Y/Z計(jì)算機(jī)的一種機(jī)型的輸入電壓型模擬信號(hào)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，輸入電壓模擬信號(hào)的一拖三測(cè)試采用線與的分線方法，每個(gè)輸入模擬信號(hào)分別連接到三臺(tái)不同機(jī)器的輸入口，對(duì)正在接受測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試的的設(shè)備可測(cè)到其對(duì)應(yīng)的模擬量值，對(duì)自檢的設(shè)備不會(huì)產(chǎn)生影響。因?yàn)槿沸盘?hào)是并聯(lián)關(guān)系，輸入阻抗將略有降低，導(dǎo)致輸入模擬量值略有變化，通過(guò)調(diào)整輸出信號(hào)源可以進(jìn)行校準(zhǔn)，以達(dá)到要求的標(biāo)準(zhǔn)值，其他各自不同的信號(hào)則分別單獨(dú)送到不同的機(jī)器。
[0040]對(duì)于X/Y/Z計(jì)算機(jī)的電流信號(hào)不能采用線與的分線方法。因?yàn)槿绻麑個(gè)電流信號(hào)并聯(lián)，每個(gè)信號(hào)只能分得信號(hào)源所提供電流的1/N，所以電流信號(hào)必須由獨(dú)立的電流源來(lái)提供。
[0041]對(duì)于X/Y/Z計(jì)算機(jī)的各種輸出信號(hào)的測(cè)試:所有的輸出信號(hào)都相互獨(dú)立，互不干擾。
[0042]當(dāng)X型機(jī)器的某一機(jī)器利用測(cè)試設(shè)備資源進(jìn)行測(cè)試時(shí)，其它兩臺(tái)機(jī)器進(jìn)行循環(huán)自測(cè)試。測(cè)試設(shè)備同時(shí)對(duì)3臺(tái)機(jī)器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，若某設(shè)備自檢過(guò)程出現(xiàn)故障，可立即開(kāi)始對(duì)該產(chǎn)品進(jìn)行全部功能/性能測(cè)試。
[0043]測(cè)試系統(tǒng)的原理框圖如附圖1所示。
[0044]綜合測(cè)試系統(tǒng)，包括控制機(jī)、離散量輸出卡、模擬量輸出卡、離散量采集卡、模擬量采集卡、接口卡、可程控電源、分線系統(tǒng)、三個(gè)繼電器陣列?？刂茩C(jī)通過(guò)接口卡與待測(cè)機(jī)型進(jìn)行相互通訊。
`[0045]在進(jìn)行輸入信號(hào)測(cè)試時(shí)，控制機(jī)通過(guò)其內(nèi)部的總線系統(tǒng)分別與離散量輸出卡、模擬量輸出卡及可程控電源連接，離散量輸出卡和模擬量輸出卡及可程控電源通過(guò)分線系統(tǒng)與三個(gè)繼電器陣列連接，三個(gè)繼電器陣列用于對(duì)應(yīng)連接三種不同類(lèi)型的計(jì)算機(jī)。
[0046]在進(jìn)行輸出信號(hào)測(cè)試時(shí)，待測(cè)試設(shè)備依次通過(guò)繼電器陣列、分線系統(tǒng)、離散量采集卡或模擬量采集卡、總線系統(tǒng)與控制機(jī)連接。
[0047]測(cè)試系統(tǒng)還包括與總線系統(tǒng)連接的可程控?cái)?shù)字表，可程控?cái)?shù)字表用于顯示測(cè)試結(jié)果O
[0048]利用本發(fā)明綜合測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行的測(cè)試方法，包括以下步驟:
[0049]I】測(cè)試系統(tǒng)上電并初始化；
[0050]2】測(cè)試系統(tǒng)自檢測(cè)；
[0051 ] 如果測(cè)試系統(tǒng)自檢測(cè)合格，進(jìn)入步驟3】;如果測(cè)試系統(tǒng)自檢測(cè)不合格，重新自檢測(cè)或下電；
[0052]3】待測(cè)試設(shè)備信號(hào)測(cè)試；
[0053]其特征在于:
[0054]所述步驟3】具體包括以下步驟:
[0055]3.1】選擇待測(cè)機(jī)型；
[0056]3.2】對(duì)選定機(jī)型的待測(cè)試設(shè)備利用測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行信號(hào)測(cè)試，每種機(jī)型的待測(cè)試設(shè)備可根據(jù)其測(cè)試需求，選擇進(jìn)行輸入離散信號(hào)、輸入電壓型模擬信號(hào)、輸入電流型模擬信號(hào)、各種輸出信號(hào)中的一種或幾種信號(hào)逐項(xiàng)測(cè)試，直至將該種機(jī)型的所有待測(cè)試設(shè)備測(cè)完，
[0057]3.3】測(cè)試完畢后，回到步驟步驟3.1】或下電；
[0058]所述步驟3.2】中所述的待測(cè)試設(shè)備信號(hào)的具體測(cè)試方法如下:
[0059]a]待測(cè)試設(shè)備輸入離散信號(hào)的測(cè)試:
[0060]主控機(jī)發(fā)送指令信息給離散量輸出卡，離散量輸出卡產(chǎn)生離散信號(hào)，所產(chǎn)生的離散量信號(hào)通過(guò)分線系統(tǒng)進(jìn)入所選擇的待測(cè)機(jī)，對(duì)該臺(tái)機(jī)器進(jìn)行測(cè)試，
[0061]b】待測(cè)試設(shè)備輸入電壓型模擬信號(hào)的測(cè)試:
[0062]主控機(jī)發(fā)送指令信息給模擬量輸出卡，模擬量輸出卡產(chǎn)生相應(yīng)的電壓型模擬信號(hào)，所產(chǎn)生的電壓型模擬信號(hào)通過(guò)分線系統(tǒng)進(jìn)入所選擇的待測(cè)機(jī)，
[0063]C】待測(cè)試設(shè)備輸入電流型模擬信號(hào)的測(cè)試:
[0064]主控機(jī)發(fā)送指令信息給模擬量輸出卡，模擬量輸出卡產(chǎn)生相應(yīng)的電流型模擬信號(hào)，所產(chǎn)生的電流型模擬信號(hào)通過(guò)分線系統(tǒng)進(jìn)入所選擇的待測(cè)機(jī)，對(duì)該臺(tái)機(jī)器進(jìn)行測(cè)試；
[0065]d]待測(cè)試設(shè)備輸出信號(hào)的測(cè)試:
[0066]選定的待測(cè)試設(shè)備產(chǎn)生各種輸出信號(hào)通過(guò)數(shù)據(jù)采集單元傳遞給主控機(jī)，主控機(jī)對(duì)輸出信號(hào)進(jìn)行判別。
[0067]在進(jìn)行步驟3.2】的測(cè)試時(shí)，可對(duì)一臺(tái)待測(cè)試設(shè)備利用測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試，也可同時(shí)對(duì)同機(jī)型的多臺(tái)待測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，對(duì)同機(jī)型未受測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試的待測(cè)設(shè)備可進(jìn)行自檢，如果待測(cè)試設(shè)備在自檢過(guò)程中發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，則在對(duì)選定待測(cè)試設(shè)備測(cè)試完畢后，測(cè)試系統(tǒng)對(duì)自檢過(guò)程中出現(xiàn)問(wèn)題的待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，直至將該種機(jī)型的所有待測(cè)試設(shè)備測(cè)完，回到步驟3.1】。
【權(quán)利要求】
1.一種綜合測(cè)試系統(tǒng)，包括控制機(jī)、數(shù)據(jù)采集單元、接口卡、電源， 其特征在于:還包括分線系統(tǒng)和多個(gè)繼電器陣列，所述控制機(jī)通過(guò)其內(nèi)部的總線系統(tǒng)分別與數(shù)據(jù)采集單元和接口卡連接，所述數(shù)據(jù)采集單元和接口卡分別通過(guò)分線系統(tǒng)與多個(gè)繼電器陣列連接，所述繼電器陣列用于控制分線系統(tǒng)與待測(cè)試設(shè)備之間信號(hào)的通斷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的綜合測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:所述數(shù)據(jù)采集單元為離散量輸出卡、模擬量輸出卡、離散量采集卡、模擬量采集卡之一或其組合。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的綜合測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:所述電源為可程控電源，所述可程控電源的輸入端與控制機(jī)連接，所述可程控電源的輸出端與分線系統(tǒng)連接。
4.據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的綜合測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:所述測(cè)試系統(tǒng)還包括與總線系統(tǒng)連接的可程控?cái)?shù)字表。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4所述的綜合測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法，包括以下步驟: . 1】測(cè)試系統(tǒng)上電并初始化； .2】測(cè)試系統(tǒng)自檢測(cè)； 如果測(cè)試系統(tǒng)自檢測(cè)合格，進(jìn)入步驟3】;如果測(cè)試系統(tǒng)自檢測(cè)不合格，重新自檢測(cè)或下電； .3】待測(cè)試設(shè)備信號(hào)測(cè)試； 其特征在于: 所述步驟3】具體包括以下步驟: .3.1】選擇待測(cè)機(jī)型； .3.2】對(duì)選定機(jī)型的待測(cè)試設(shè)備利用測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行信號(hào)測(cè)試，每種機(jī)型的待測(cè)試設(shè)備根據(jù)其測(cè)試需求，選擇輸入離散信號(hào)、輸入電壓型模擬信號(hào)、輸入電流型模擬信號(hào)、各種輸出信號(hào)中的一種或幾種信號(hào)進(jìn)行逐項(xiàng)測(cè)試，直至將該種機(jī)型的所有待測(cè)試設(shè)備測(cè)完， .3.3】測(cè)試完畢后，回到步驟3.1】或下電； 所述步驟3.2】中所述的待測(cè)試設(shè)備信號(hào)的具體測(cè)試方法如下: a】待測(cè)試設(shè)備輸入離散信號(hào)的測(cè)試: 主控機(jī)發(fā)送指令信息給離散量輸出卡，離散量輸出卡產(chǎn)生離散信號(hào)，所產(chǎn)生的離散量信號(hào)通過(guò)分線系統(tǒng)進(jìn)入所選擇的待測(cè)機(jī)，對(duì)該臺(tái)機(jī)器進(jìn)行測(cè)試，b】待測(cè)試設(shè)備輸入電壓型模擬信號(hào)的測(cè)試: 主控機(jī)發(fā)送指令信息給模擬量輸出卡，模擬量輸出卡產(chǎn)生相應(yīng)的電壓型模擬信號(hào)，所產(chǎn)生的電壓型模擬信號(hào)通過(guò)分線系統(tǒng)進(jìn)入所選擇的待測(cè)機(jī)， C】待測(cè)試設(shè)備輸入電流型模擬信號(hào)的測(cè)試: 主控機(jī)發(fā)送指令信息給模擬量輸出卡，模擬量輸出卡產(chǎn)生相應(yīng)的電流型模擬信號(hào)，所產(chǎn)生的電流型模擬信號(hào)通過(guò)分線系統(tǒng)進(jìn)入所選擇的待測(cè)機(jī)，對(duì)該臺(tái)機(jī)器進(jìn)行測(cè)試；d】待測(cè)試設(shè)備輸出信號(hào)的測(cè)試: 選定的待測(cè)試設(shè)備產(chǎn)生各種輸出信號(hào)通過(guò)數(shù)據(jù)采集單元傳遞給主控機(jī)，主控機(jī)對(duì)輸出信號(hào)進(jìn)行判別。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的綜合測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法，其特征在于:在進(jìn)行步驟3.2】的測(cè)試時(shí)，對(duì)一臺(tái)待測(cè)試設(shè)備利用測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試，也可同時(shí)對(duì)同種機(jī)型的多臺(tái)待測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，對(duì)未受測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試的待測(cè)設(shè)備可進(jìn)行自檢，如果待測(cè)試設(shè)備在自檢過(guò)程中發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，則在對(duì)選定待測(cè)試設(shè)備測(cè)試完畢后，測(cè)試系統(tǒng)對(duì)自檢過(guò)程中出現(xiàn)問(wèn)題的待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，直至將該種機(jī)型的所`有待`測(cè)試設(shè)備測(cè)完，回到步驟3.1】。
【文檔編號(hào)】G06F11/22GK103678062SQ201310659829
【公開(kāi)日】2014年3月26日 申請(qǐng)日期:2013年12月6日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月6日
【發(fā)明者】張娟, 張峰, 趙婧華, 解啟永, 林堅(jiān) 申請(qǐng)人:中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司第六三一研究所