光纖基座產(chǎn)品專用高度檢測(cè)治具的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及光纖基座產(chǎn)品專用高度檢測(cè)治具，包括治具本體，所述治具本體呈C字形，其凹槽部分下方為平面結(jié)構(gòu)，上方呈階梯式結(jié)構(gòu)；所述階梯式結(jié)構(gòu)將所述凹槽部分分割為高度不一的通端和止端，所述通端和止端高度尺寸與光纖基座產(chǎn)品部位吻合。本實(shí)用新型操作方便，檢測(cè)效率高。
【專利說(shuō)明】
光纖基座產(chǎn)品專用高度檢測(cè)治具
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及光纖基座產(chǎn)品檢測(cè)裝置領(lǐng)域，具體公開(kāi)一種光纖基座產(chǎn)品專用高度檢測(cè)治具。
【背景技術(shù)】
[0002]高度是否在圖紙公差范圍之內(nèi)以及高度的一致性對(duì)于光纖基座產(chǎn)品來(lái)說(shuō)非常重要，因?yàn)楣饫w基座產(chǎn)品最終要和其他配件裝配在一起，在裝配過(guò)程中高度的一致性決定了自動(dòng)裝配能否順利完成并且對(duì)裝配后產(chǎn)品能否實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)功能有決定性的作用。因此在生產(chǎn)過(guò)程中需要對(duì)高度進(jìn)行嚴(yán)格管控，通常的做法是使用高度規(guī)對(duì)燒結(jié)出來(lái)的產(chǎn)品進(jìn)行高度全檢，操作繁瑣，效率低下。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的發(fā)明目的在于:為解決以上問(wèn)題提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，檢測(cè)效率尚的光纖基座廣品專用尚度檢測(cè)治具。
[0004]本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是這樣的:
[0005]光纖基座產(chǎn)品專用高度檢測(cè)治具，包括治具本體，所述治具本體呈C字形，其凹槽部分下方為平面結(jié)構(gòu)，上方呈階梯式結(jié)構(gòu);所述階梯式結(jié)構(gòu)將所述凹槽部分分割為高度不一的通端和止端，所述通端和止端高度尺寸與光纖基座產(chǎn)品部位吻合。
[0006]進(jìn)一步地，所述治具本體棱角部分倒角處理。
[0007]綜上所述，由于采用上述技術(shù)方案，本實(shí)用新型的有益效果是:
[0008]本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，檢測(cè)效率高。
【附圖說(shuō)明】
[0009]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0010]圖2為圖1側(cè)視圖。
[0011 ]圖中標(biāo)記:1、治具本體;2、凹槽;3、階梯式結(jié)構(gòu);4、通端;5、止端。
【具體實(shí)施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。
[0013]如圖1?2所示，光纖基座產(chǎn)品專用高度檢測(cè)治具，包括治具本體I，所述治具本體I呈C字形，其凹槽2部分下方為平面結(jié)構(gòu)，上方呈階梯式結(jié)構(gòu)3;所述階梯式結(jié)構(gòu)3將所述凹槽2部分分割為高度不一的通端4和止端5，所述通端4和止端5高度尺寸與光纖基座產(chǎn)品部位吻合。
[0014]所述治具本體I棱角部分倒角處理，防止鋒利棱角刮傷產(chǎn)品和檢測(cè)人員手指。
[0015]使用時(shí)將產(chǎn)品底部和凹槽2的底部貼平，平穩(wěn)地將產(chǎn)品慢慢往前推入。通端4能通止端5能止的產(chǎn)品即為合格產(chǎn)品。本實(shí)用新型能夠快速檢測(cè)產(chǎn)品是否合格，操作簡(jiǎn)單方便。
[0016]以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.光纖基座產(chǎn)品專用高度檢測(cè)治具，包括治具本體，其特征在于:所述治具本體呈C字形，其凹槽部分下方為平面結(jié)構(gòu)，上方呈階梯式結(jié)構(gòu);所述階梯式結(jié)構(gòu)將所述凹槽部分分割為高度不一的通端和止端，所述通端和止端高度尺寸與光纖基座產(chǎn)品部位吻合。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光纖基座產(chǎn)品專用高度檢測(cè)治具，其特征在于:所述治具本體棱角部分倒角處理。
【文檔編號(hào)】G01B5/06GK205448912SQ201521058645
【公開(kāi)日】2016年8月10日
【申請(qǐng)日】2015年12月18日
【發(fā)明人】張金國(guó)
【申請(qǐng)人】江蘇愛(ài)仕特精密電子科技有限公司