射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及射頻微波測(cè)量【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具，包括：PCB板及底板。PCB板的左側(cè)設(shè)置有第一阻抗變換單元，PCB板的右側(cè)設(shè)置有第二阻抗變換單元。第一阻抗變換單元和第二阻抗變換單元分別由一組漸變的微帶線組成，每組所述微帶線中的每條微帶線的寬度相同，每組微帶線的長(zhǎng)度在排列方向上按照從小到大，再?gòu)拇蟮叫〉囊?guī)律變化。PCB板連接在底板的上端。本發(fā)明提供的射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具，可以有效的提高待測(cè)晶體管的阻抗實(shí)部，解決振蕩的源頭問題，防止燒毀待測(cè)試器件，保證待測(cè)試器件射頻、微波性能充分發(fā)揮。
【專利說明】射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及射頻微波測(cè)量【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]目前，通常使用50Ω測(cè)試夾具測(cè)試大柵寬、高功率的PA (Power Amplifier,功率放大器)，50 Ω測(cè)試夾具為對(duì)稱型測(cè)試夾具，對(duì)稱型測(cè)試夾具是指輸入輸出端變換成相等的阻抗值，因?yàn)楸粶y(cè)試設(shè)備的輸入、輸出阻抗不相等，所以現(xiàn)有的50Ω測(cè)試夾具變換后的輸入阻抗與輸出阻抗不能夠完全匹配被測(cè)試設(shè)備的測(cè)試，輸入阻抗失配導(dǎo)致測(cè)試大功率容易引起低頻振蕩，燒毀器件，輸出阻抗失配導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種能夠與待測(cè)試器件的輸入、輸出阻抗相匹配，防止燒毀待測(cè)試器件，保證待測(cè)試器件微波性能測(cè)量準(zhǔn)確度的射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具，包括:PCB板及底板；所述PCB板的左側(cè)設(shè)置有第一阻抗變換單元，所述PCB板的右側(cè)設(shè)置有第二阻抗變換單元；所述第一阻抗變換單元和所述第二阻抗變換單元分別由一組漸變的微帶線組成，每組所述微帶線中的每條微帶線的寬度相同，每組所述微帶線的長(zhǎng)度在排列方向上按照從小到大，再?gòu)拇蟮叫〉囊?guī)律變化；所述PCB板上還設(shè)置有扇形電容、電源端和接地端，所述扇形電容的一個(gè)極板與所述第二阻抗變換單元及所述電源端連接，所述扇形電容的另一個(gè)極板接地，所述接地端用于接地；所述PCB板連接在所述底板的上端。
[0005]進(jìn)一步地，所述PCB板上還設(shè)置有散熱孔。
[0006]進(jìn)一步地，還包括螺釘；所述PCB板通過所述螺釘設(shè)置在所述底板上。
[0007]進(jìn)一步地，所述底板上設(shè)置有散熱孔。
[0008]進(jìn)一步地，每組所述微帶線中包含100根所述微帶線。
[0009]本發(fā)明提供的射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具，通過第一阻抗變換單元和第二阻抗變換單元分別變換得到與待測(cè)試器件輸入、輸出相匹配的阻抗，可以有效的提高待測(cè)晶體管的阻抗實(shí)部，解決振蕩的源頭問題，防止燒毀待測(cè)試器件，保證待測(cè)試器件微波測(cè)量準(zhǔn)確度。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0010]圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的PCB板結(jié)構(gòu)示意圖；
[0011]圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的底板結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0012]參見圖1和圖2，本發(fā)明實(shí)施例提供的一種射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具，包括:PCB板7、底板9及螺釘。PCB板7的左側(cè)設(shè)置有第一阻抗變換單元1，PCB板7的右側(cè)設(shè)置有第二阻抗變換單元2，第一阻抗變換單元I和第二阻抗變換單元2分別由一組漸變的微帶線(如Klopfenstein漸變微帶線)組成,每組微帶線由100條微帶線組成,每組微帶線中的每條微帶線的寬度相同，每組微帶線的長(zhǎng)度在排列方向上按照從小到大，再?gòu)拇蟮叫〉囊?guī)律變化。PCB板7上還設(shè)置有扇形電容3、電源端4和接地端5，扇形電容3的一個(gè)極板與第二阻抗變換單元2及電源端4連接，扇形電容3的另一個(gè)極板接地，接地端5用于接地，且與PCB板7上需要接地的端孔連接；PCB板7通過螺釘連接在底板9的上端，底板9采用銅板，且底板9的兩端可以根據(jù)實(shí)際需要設(shè)置電氣接頭，用于和外部的電器元件連接。本發(fā)明實(shí)施例中，PCB板7上還設(shè)置有散熱孔6。底板9上設(shè)置有散熱孔。
[0013]由于低阻抗測(cè)試夾具需要測(cè)試大柵寬LDMOS器件不同頻點(diǎn)的S參數(shù)來評(píng)估器件頻率特性，因此這個(gè)阻抗變換預(yù)匹配PCB板7必須是寬帶的，采用漸變微帶線能夠很好的實(shí)現(xiàn)。同時(shí)結(jié)合被測(cè)試器件阻抗等問題，本發(fā)明中，PCB板7采用100節(jié)Klopfenstein漸變微帶線來實(shí)現(xiàn)，輸入端阻抗從50歐姆變換到10歐姆，輸出端阻抗從50歐姆變換到3歐姆。扇形電容3起到隔離高頻信號(hào)以及濾除電源紋波作用，待測(cè)試器件的兩個(gè)管腳分別連接在第一阻抗變換單元和第二阻抗變換單元的頭部(即兩組微帶線較為密集的一端)。本發(fā)明實(shí)施例提供的射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具的帶寬涵蓋P波段、L波段、S波段，測(cè)試適用范圍很廣，并且可以測(cè)試出待測(cè)試器件不穩(wěn)定區(qū)域。本發(fā)明實(shí)施例提供的射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具，可以用于微波射頻功率管的器件性能測(cè)試，但它的使用可能會(huì)引入測(cè)試誤差，利用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試得到的是包括低阻抗測(cè)試夾具和待測(cè)管整體的S參數(shù)，把射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具的誤差影響去除掉就可以得到待測(cè)管準(zhǔn)確的S參數(shù)。因此對(duì)低阻抗測(cè)試夾具的校準(zhǔn)是測(cè)試的理論前提，本實(shí)施例可采用TRL算法可以實(shí)現(xiàn)對(duì)低阻抗測(cè)試夾具的準(zhǔn)確校準(zhǔn)。
[0014]發(fā)明提供的射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具，通過第一阻抗變換單元I和第二阻抗變換單元分2別變換得到與待測(cè)試器件輸入、輸出相匹配的阻抗，可以有效的提高待測(cè)試期間(如待測(cè)試的晶體管)的阻抗實(shí)部，解決振蕩的源頭問題，防止燒毀待測(cè)試器件，保證待測(cè)試器件微波測(cè)量準(zhǔn)確度。
[0015]最后所應(yīng)說明的是，以上【具體實(shí)施方式】?jī)H用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照實(shí)例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍，其均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。
【權(quán)利要求】
1.一種射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具，其特征在于，包括=PCB板及底板；所述PCB板的左側(cè)設(shè)置有第一阻抗變換單元，所述PCB板的右側(cè)設(shè)置有第二阻抗變換單元；所述第一阻抗變換單元和所述第二阻抗變換單元分別由一組漸變的微帶線組成，每組所述微帶線中的每條微帶線的寬度相同，每組所述微帶線的長(zhǎng)度在排列方向上按照從小到大，再?gòu)拇蟮叫〉囊?guī)律變化；所述PCB板上還設(shè)置有扇形電容、電源端和接地端，所述扇形電容的一個(gè)極板與所述第二阻抗變換單元及所述電源端連接，所述扇形電容的另一個(gè)極板接地，所述接地端用于接地；所述PCB板連接在所述底板的上端。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具，其特征在于，所述PCB板上還設(shè)置有散熱孔。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具，其特征在于，還包括螺釘；所述PCB板通過所述螺釘設(shè)置在所述底板上。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具，其特征在于，所述底板上設(shè)置有散熱孔。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻非對(duì)稱低阻抗測(cè)試夾具，其特征在于，每組所述微帶線中包含100根所述微帶線。
【文檔編號(hào)】G01R1/04GK103852602SQ201410102906
【公開日】2014年6月11日 申請(qǐng)日期:2014年3月19日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月19日
【發(fā)明者】叢密芳, 李科, 任建偉, 李永強(qiáng), 杜寰 申請(qǐng)人:上海聯(lián)星電子有限公司