專利名稱：一種雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測(cè)量方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于電子測(cè)量及射頻電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域，特別涉及一種雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測(cè)量方法。
背景技術(shù)：
當(dāng)電路工作到百兆赫茲以上的射頻段時(shí)，雙面敷金屬箔板的有效介電常數(shù)對(duì)印制板的線寬設(shè)置及阻抗特性等的影響都會(huì)凸顯出來(lái)。有效介電常數(shù)是高頻電路設(shè)計(jì)中一項(xiàng)很重要的參數(shù)，但是大量的雙面敷金屬箔板(尤其是國(guó)內(nèi)生產(chǎn)的雙面敷銅箔板)產(chǎn)品參數(shù)當(dāng)中并沒(méi)有給出這一重要參數(shù)。在涉及微波電路設(shè)計(jì)等電子信息工程應(yīng)用及科研、技術(shù)開(kāi)發(fā)中，雙面敷金屬箔板， 尤其是雙面敷銅箔板，得到了普遍使用，因?yàn)樗哂锌讨茖?shí)驗(yàn)電路時(shí)價(jià)格低廉且實(shí)驗(yàn)周期短等特點(diǎn)。實(shí)際上國(guó)內(nèi)生產(chǎn)的雙面敷銅箔板在質(zhì)量上是并不遜色于進(jìn)口電路板，為了更多地利用國(guó)產(chǎn)產(chǎn)品，減少對(duì)國(guó)外高價(jià)雙面敷銅箔板的依賴，同時(shí)降低實(shí)驗(yàn)代價(jià)，并獲得較好的性能指標(biāo)和實(shí)驗(yàn)效果，亟需一種在低成本條件下能簡(jiǎn)潔有效地獲取雙面敷銅箔板有效介電常數(shù)的測(cè)量方法。目前，現(xiàn)有的針對(duì)雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測(cè)量方法均需要專門裝置。如 諧振腔方法需要諧振腔裝置；電容測(cè)量法需要精密電容測(cè)量計(jì)；公告為CN2066145、名稱為 “雙面敷銅箔板介電常數(shù)測(cè)試裝置”的實(shí)用新型專利公開(kāi)了一種由底座、支架、導(dǎo)軌、檢波系統(tǒng)、調(diào)諧裝置及導(dǎo)波波長(zhǎng)讀數(shù)標(biāo)尺等構(gòu)成的雙面敷銅箔板介電常數(shù)測(cè)試的專門裝置。這些測(cè)量方法雖然能夠達(dá)到測(cè)量目的，但由于需要專門的測(cè)量裝置，因此存在成本較高的缺陷， 尤其不適合于高校電路設(shè)計(jì)過(guò)程中的測(cè)試及實(shí)驗(yàn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種無(wú)需專門測(cè)量裝置而只需借助單臺(tái)或少量通用測(cè)試儀器、低成本、高效率的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測(cè)量方法。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案如下本發(fā)明的基本原理是利用高頻信號(hào)在微帶線上的傳輸特性，將被測(cè)雙面敷金屬箔板加工成帶有一定微帶線圖案的印制板，而后對(duì)該印制板進(jìn)行散射參量(S參數(shù))、或駐波比參數(shù)、或相位參數(shù)、或特征阻抗參數(shù)等電路響應(yīng)數(shù)據(jù)的測(cè)量。通過(guò)電路響應(yīng)數(shù)據(jù)與事先通過(guò)仿真獲得的仿真數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，找到與電路響應(yīng)數(shù)據(jù)相似程度最高的一組仿真數(shù)據(jù)，在仿真軟件中與該組仿真數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)就是最終獲得的被測(cè)雙面敷金屬箔板的有效介電常數(shù)，達(dá)到測(cè)量目的。具體而言，本發(fā)明提出的一種雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測(cè)量方法，其步驟如下(1)首先選取一副微帶線圖案，在仿真軟件中進(jìn)行繪制；同時(shí)在仿真軟件中，設(shè)置被測(cè)雙面敷金屬箔板的已知參數(shù)，定義信號(hào)輸入口和信號(hào)輸出口 ；所述被測(cè)雙面敷金屬箔板的已知參數(shù)包括雙面敷金屬箔板板厚、敷金屬厚度、介質(zhì)基片的厚度(可不進(jìn)行設(shè)置，由軟件自行計(jì)算)、介質(zhì)基片的介電常數(shù)(可不進(jìn)行設(shè)置，由軟件依據(jù)相關(guān)算法進(jìn)行計(jì)算)、敷金屬的電導(dǎo)率、敷金屬的磁導(dǎo)率、敷金屬的損耗角正切值、敷金屬表面光滑程度和封裝空間大小。選取的微帶線圖案優(yōu)先選擇矩形微帶線。所述仿真軟件優(yōu)先選擇安捷倫公司的ADS 射頻微波仿真軟件。(2)然后在所述仿真軟件中設(shè)定至少一個(gè)雙面敷金屬箔板的有效介電常數(shù)進(jìn)行仿真，獲得與設(shè)定的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)相對(duì)應(yīng)的至少一組仿真數(shù)據(jù)；所述仿真數(shù)據(jù)為散射參量、或駐波比參數(shù)、或相位參數(shù)、或特征阻抗參數(shù)。上述步驟(1)和O)即是在仿真軟件中繪制微帶線圖案的基礎(chǔ)上，在仿真軟件中通過(guò)設(shè)置輸入一系列被測(cè)板的已知參數(shù)、定義信號(hào)端口、輸入假定的有效介電常數(shù)進(jìn)行仿真，從而獲得所需的仿真數(shù)據(jù)。每輸入一個(gè)假定的有效介電常數(shù)，就獲得一組對(duì)應(yīng)的仿真數(shù)據(jù)。(3)將被測(cè)雙面敷金屬箔板按照步驟(1)中選取的微帶線圖案加工成為印制板。(4)對(duì)步驟(3)中加工獲得的印制板進(jìn)行測(cè)量，獲取電路響應(yīng)數(shù)據(jù)；所述電路響應(yīng)數(shù)據(jù)為散射參量、或駐波比參數(shù)、或相位參數(shù)、或特征阻抗參數(shù)。對(duì)印制板進(jìn)行測(cè)量?jī)?yōu)先選擇使用的是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。經(jīng)實(shí)驗(yàn)證明，使用散射參量(S參數(shù))、駐波比參數(shù)、相位參數(shù)、特征阻抗參數(shù)中的任一個(gè)都可以實(shí)現(xiàn)被測(cè)板有效介電常數(shù)的測(cè)量。使用散射參量(S參數(shù))中的“S11”或 “S22”參數(shù)最易于測(cè)得被測(cè)板的有效介電常數(shù)，因此上述散射參量?jī)?yōu)先選擇Sll或S22。(5)使用擬合算法，將步驟⑷中獲取的電路響應(yīng)數(shù)據(jù)與步驟(2)中獲得的仿真數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合運(yùn)算，找出與步驟中獲取的電路響應(yīng)數(shù)據(jù)相似程度最高的一組仿真數(shù)據(jù)； 所述被找出的一組仿真數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)(即步驟( 中設(shè)定的與該組仿真數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的那個(gè)雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù))即為被測(cè)雙面敷金屬箔板的有效介電常數(shù)。上述數(shù)據(jù)擬合算法采用一類擬合算法，這類擬合算法的手段是多樣的，但共同的目的是比較兩條數(shù)據(jù)曲線的相似程度。數(shù)據(jù)擬合算法通過(guò)對(duì)仿真數(shù)據(jù)構(gòu)成的曲線與刻有一定微帶線的雙面敷金屬箔板實(shí)測(cè)電路響應(yīng)數(shù)據(jù)曲線進(jìn)行比較，找出與被測(cè)板實(shí)測(cè)電路響應(yīng)數(shù)據(jù)相似程度最高的一條仿真數(shù)據(jù)曲線，從而確定雙面敷金屬箔板的有效介電常數(shù)。所述擬合算法優(yōu)先選擇極值點(diǎn)比較法。本發(fā)明在進(jìn)行步驟C3)之前，可以通過(guò)重復(fù)步驟(1)和0)，并將選取的微帶線圖案、輸入的一系列被測(cè)板已知參數(shù)、輸入的有效介電常數(shù)及獲得的對(duì)應(yīng)仿真數(shù)據(jù)存入數(shù)據(jù)庫(kù)中，建立起雙面敷金屬箔板相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)。建立起雙面敷金屬箔板相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)后， 再通過(guò)對(duì)加工出來(lái)的帶有一定微帶線圖案的印制板施加激勵(lì)并測(cè)取響應(yīng)，獲得實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)； 應(yīng)用數(shù)據(jù)擬合算法將這一實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)與雙面敷金屬箔板相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)中的數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合， 從而獲得被測(cè)雙面敷金屬箔板的有效介電常數(shù)。雙面敷金屬箔板相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)是雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)與刻有一定微帶線圖案的雙面敷金屬箔板實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)之間建立關(guān)系的橋梁，建立起了刻有一定微帶線圖案的雙面敷金屬箔板實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)與雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。建立一龐大的雙面敷金屬箔板相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)有助于本發(fā)明測(cè)量方法的推廣使用。
具體而言，建立雙面敷金屬箔板相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)步驟如下a)將被測(cè)板的已知參數(shù)(包括雙面敷金屬箔板板厚、敷金屬厚度、介質(zhì)基片的厚度、介質(zhì)基片的介電常數(shù)、敷金屬的電導(dǎo)率、敷金屬的磁導(dǎo)率、敷金屬的損耗角正切值、敷金屬表面光滑程度和封裝空間大小)填入數(shù)據(jù)表。選取一幅微帶線圖案，并在仿真軟件中繪制與該圖案相同的微帶線圖案，在仿真軟件中設(shè)置填入數(shù)據(jù)表的各已知參數(shù)，并定義信號(hào)輸入和輸出口。b)在仿真軟件中設(shè)定雙面敷金屬箔板的有效介電常數(shù)，進(jìn)行仿真。仿真結(jié)束獲得一組針對(duì)于該有效介電常數(shù)的仿真數(shù)據(jù)，包括散射參量(S參數(shù))、或駐波比參數(shù)、或相位參數(shù)、或特征阻抗參數(shù)等數(shù)據(jù)。設(shè)定不同的有效介電常數(shù)進(jìn)行多次仿真，獲得多組對(duì)應(yīng)于所設(shè)置的有效介電常數(shù)的仿真數(shù)據(jù)。將設(shè)定的多個(gè)有效介電常數(shù)及獲得的多組仿真數(shù)據(jù)分別輸入數(shù)據(jù)表，每組仿真數(shù)據(jù)劃為一個(gè)數(shù)據(jù)組，每個(gè)有效介電常數(shù)值與應(yīng)用其進(jìn)行仿真所獲得的仿真數(shù)據(jù)相對(duì)應(yīng)。c)將步驟a)、b)中輸入數(shù)據(jù)表的數(shù)據(jù)劃為一個(gè)數(shù)據(jù)單元，將該數(shù)據(jù)單元中的數(shù)據(jù)與步驟a)中選取的被測(cè)板的微帶線圖案相對(duì)應(yīng)。d)選取不同的微帶線圖案，重復(fù)步驟a) -c)，獲得多個(gè)數(shù)據(jù)單元，這些數(shù)據(jù)單元與進(jìn)行仿真時(shí)所選取的微帶線圖案一一對(duì)應(yīng)。e)將以上步驟中的數(shù)據(jù)整合，存儲(chǔ)在一個(gè)數(shù)據(jù)庫(kù)中，獲得雙面敷金屬箔板相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)。在上述使用仿真方法構(gòu)建雙面敷金屬箔板相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)的步驟a)中使用被測(cè)板的已知參數(shù)，可以大大減少仿真工作量。當(dāng)然，也可以不使用被測(cè)板的已知參數(shù)，而是針對(duì)不同的參數(shù)都要進(jìn)行仿真，來(lái)構(gòu)建數(shù)據(jù)庫(kù)，但這樣做的工作量會(huì)大幅增加。建立好的雙面敷金屬箔板相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)由一系列數(shù)據(jù)單元構(gòu)成，每個(gè)數(shù)據(jù)單元中又含有多個(gè)數(shù)據(jù)組， 數(shù)據(jù)組中存儲(chǔ)著與有效介電常數(shù)及所使用的微帶線圖案相對(duì)應(yīng)的仿真數(shù)據(jù)。建立起雙面敷金屬箔板相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)后，再通過(guò)對(duì)加工出來(lái)的帶有一定微帶線圖案的印制板施加激勵(lì)并測(cè)取響應(yīng)，獲得實(shí)測(cè)電路響應(yīng)數(shù)據(jù)；使用擬合算法，將實(shí)測(cè)電路響應(yīng)數(shù)據(jù)與雙面敷金屬箔板相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)中所存儲(chǔ)的、對(duì)應(yīng)于印制板上所刻制微帶線圖案的多組仿真數(shù)據(jù)逐一進(jìn)行擬合運(yùn)算。擬合運(yùn)算的目的是從雙面敷金屬箔板相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)中所存儲(chǔ)的眾多組仿真數(shù)據(jù)當(dāng)中找出一組與實(shí)測(cè)電路響應(yīng)數(shù)據(jù)相似程度最高的數(shù)據(jù)。該被找出的一組仿真數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)于雙面敷金屬箔板相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)中的有效介電常數(shù)即為所求。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是能夠利用射頻/微波電路設(shè)計(jì)、調(diào)試過(guò)程中所使用的基礎(chǔ)、通用的儀器、設(shè)備(矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀)及軟件進(jìn)行相關(guān)量測(cè)量，無(wú)需購(gòu)買專門儀器，擺脫舊有的測(cè)量方法，使用數(shù)據(jù)擬合方法就能測(cè)得雙面敷金屬箔板的有效介電常數(shù)，實(shí)踐成本低、效率高、方便快捷，尤其適用于雙面敷銅箔板有效介電常數(shù)的測(cè)量，可直接面向微波電路設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)。
圖1是雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)測(cè)量方法的流程示意圖。圖2是實(shí)施例1中在ADS軟件中進(jìn)行仿真的原理圖。
圖3是實(shí)施例1中對(duì)有效介電常數(shù)進(jìn)行掃描的S參數(shù)仿真獲得的Sll參數(shù)數(shù)據(jù)曲線。圖4是實(shí)施例1中使用安捷倫公司Ε836!3Β型矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)得的Sll參數(shù)曲線(屏幕截圖)。圖4中S21曲線是Ε836!3Β型矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀系統(tǒng)自動(dòng)給出的測(cè)量參數(shù)， 在實(shí)施例1中可不用此參數(shù)。圖5是實(shí)施例1中使用安捷倫公司Ε836!3Β型矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)得的Sll參數(shù)(數(shù)據(jù)掃描圖)。圖6是實(shí)施例1中仿真獲得的有效介電常數(shù)等于6時(shí)的Sll參數(shù)。圖7是實(shí)施例2中使用安捷倫公司Ε836!3Β型矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)得的駐波比參數(shù) (數(shù)據(jù)掃描圖)。圖8是實(shí)施例2中仿真獲得的有效介電常數(shù)等于6. 4時(shí)的駐波比參數(shù)。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖，對(duì)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例作進(jìn)一步的描述。實(shí)施例1如圖1、圖2、圖3、圖4、圖5、圖6所示。采用本發(fā)明的測(cè)量方法對(duì)一批雙面敷銅箔板進(jìn)行有效介電常數(shù)的測(cè)量，具體步驟如下(1)使用安捷倫公司的ADS射頻微波仿真軟件建立仿真原理圖。在仿真原理圖中放置寬度為0.8mm、長(zhǎng)度為50mm的矩形微帶線。定義微帶線左端為端口 1，微帶線右端為端口 2，通過(guò)50歐姆(Ohm)的term控件接地。在微帶線的控件MSUB中設(shè)置被測(cè)雙面敷銅箔板的已知參數(shù)，包括被測(cè)雙面敷銅箔板厚度1. 2mm、敷銅厚度0. 02mm、敷銅的電導(dǎo)率 5. 88E+7、敷銅的磁導(dǎo)率1、敷銅的損耗角正切值le-4、敷銅表面光滑程度Omm和封裝空間大小 1. 0e+33mmo(2)放入S參數(shù)掃描控件，設(shè)置掃描范圍為DC至5GHz，掃描步進(jìn)為1MHz。對(duì)有效介電常數(shù)ee進(jìn)行掃描仿真，掃描范圍為1至10，掃描步進(jìn)為1。完成的原理圖如圖2所示。 執(zhí)行仿真，獲取仿真數(shù)據(jù)。在仿真數(shù)據(jù)顯示中顯示10組Sll的數(shù)據(jù)曲線，如圖3所示。(3)取一小塊被測(cè)雙面敷銅箔板樣材，按照寬度為0. 8mm、長(zhǎng)度為50mm的矩形微帶線圖案將樣材加工成印制板，兩端焊接50歐姆匹配同軸線接頭。(4)使用安捷倫公司Ε836!3Β型矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀對(duì)步驟( 中加工獲得的印制板進(jìn)行測(cè)量，獲取散射參量，即圖4所示的實(shí)測(cè)Sll參數(shù)曲線。(5)采用極值點(diǎn)比較法，將步驟⑷中獲得的散射參量(Sll)與步驟⑵中獲得的 10組散射參量(Sll)依次進(jìn)行擬合運(yùn)算。如圖5所示，實(shí)測(cè)曲線的Sll參數(shù)在極值點(diǎn)處的橫坐標(biāo)(頻率)值分別為1. 493GHz, 2. 976GHz，4. 409GHz。這三個(gè)極值點(diǎn)與步驟(2)中獲得的有效介電常數(shù)ee等于6時(shí)的Sll參數(shù)(如圖6所示)極值點(diǎn)最為接近。由此確定，被測(cè)雙面敷銅箔板的有效介電常數(shù)為6。達(dá)到測(cè)量目的。實(shí)施例2如圖1、圖7、圖8所示。與實(shí)施例1相同的地方不再重復(fù)敘述，不同之處在于(1)在仿真原理圖中放置寬度為1. 2mm、長(zhǎng)度為50mm的矩形微帶線。(2)對(duì)有效介電常數(shù)ee進(jìn)行掃描仿真，掃描范圍為1至10，掃描步進(jìn)為0. 1。執(zhí)行仿真，獲取仿真數(shù)據(jù)。在仿真數(shù)據(jù)顯示中顯示駐波比參數(shù)。(3)取一小塊被測(cè)雙面敷銅箔板樣材，按照寬度為1. 2mm、長(zhǎng)度為50mm的矩形微帶線圖案將樣材加工成印制板，兩端焊接50歐姆匹配同軸線接頭。(4)使用安捷倫公司Ε836!3Β型矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀對(duì)步驟( 中加工獲得的印制板進(jìn)行測(cè)量，獲取駐波比參數(shù)。(5)采用極值點(diǎn)比較法，將步驟⑷中獲得的駐波比參數(shù)與步驟(2)中獲得的100 組駐波比參數(shù)依次進(jìn)行擬合運(yùn)算。如圖7所示，實(shí)測(cè)曲線的駐波比參數(shù)在極值點(diǎn)處的橫坐標(biāo)(頻率)值分別為1. 423GHz, 2. 845GHz，4. 244GHz。這三個(gè)極值點(diǎn)與步驟(2)中獲得的有效介電常數(shù)ee等于6. 4時(shí)的駐波比參數(shù)(如圖8所示)極值點(diǎn)最為接近。由此確定，被測(cè)雙面敷銅箔板的有效介電常數(shù)為6. 4。達(dá)到測(cè)量目的。
權(quán)利要求
1.一種雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測(cè)量方法，其特征在于所述雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測(cè)量方法步驟如下(1)選取一副微帶線圖案，在仿真軟件中進(jìn)行繪制；同時(shí)在仿真軟件中，設(shè)置被測(cè)雙面敷金屬箔板的已知參數(shù)，定義信號(hào)輸入口和信號(hào)輸出口 ；所述被測(cè)雙面敷金屬箔板的已知參數(shù)包括雙面敷金屬箔板板厚、敷金屬厚度、敷金屬的電導(dǎo)率、敷金屬的磁導(dǎo)率、敷金屬的損耗角正切值、敷金屬表面光滑程度和封裝空間大?。?2)在所述仿真軟件中設(shè)定至少一個(gè)雙面敷金屬箔板的有效介電常數(shù)進(jìn)行仿真，獲得與設(shè)定的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)相對(duì)應(yīng)的至少一組仿真數(shù)據(jù)；所述仿真數(shù)據(jù)為散射參量、或駐波比參數(shù)、或相位參數(shù)、或特征阻抗參數(shù)；(3)將被測(cè)雙面敷金屬箔板按照步驟(1)中選取的微帶線圖案加工成為印制板；(4)對(duì)步驟C3)中加工獲得的印制板進(jìn)行測(cè)量，獲取電路響應(yīng)數(shù)據(jù)；所述電路響應(yīng)數(shù)據(jù)為散射參量、或駐波比參數(shù)、或相位參數(shù)、或特征阻抗參數(shù)；(5)使用擬合算法，將步驟(4)中獲取的電路響應(yīng)數(shù)據(jù)與步驟( 中獲得的仿真數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合運(yùn)算，找出與步驟(4)中獲取的電路響應(yīng)數(shù)據(jù)相似程度最高的一組仿真數(shù)據(jù)；所述被找出的一組仿真數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)即為被測(cè)雙面敷金屬箔板的有效介電常數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測(cè)量方法，其特征在于步驟(1)中選取的微帶線圖案為矩形微帶線。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測(cè)量方法，其特征在于所述散射參量為Sll或S22。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測(cè)量方法，其特征在于所述仿真軟件為安捷倫公司的ADS射頻微波仿真軟件。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測(cè)量方法，其特征在于步驟中對(duì)印制板進(jìn)行測(cè)量使用的是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測(cè)量方法，其特征在于所述擬合算法為極值點(diǎn)比較法。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測(cè)量方法，其特征在于所述雙面敷金屬箔板為雙面敷銅箔板。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測(cè)量方法。所述測(cè)量方法將被測(cè)板加工成帶有一定微帶線圖案的印制板，而后對(duì)該印制板進(jìn)行散射參量、或駐波比參數(shù)、或相位參數(shù)、或特征阻抗參數(shù)等電路響應(yīng)數(shù)據(jù)的測(cè)量；通過(guò)電路響應(yīng)數(shù)據(jù)與事先通過(guò)仿真獲得的仿真數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，找到與電路響應(yīng)數(shù)據(jù)相似程度最高的一組仿真數(shù)據(jù)，在仿真軟件中與該組仿真數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)就是最終獲得的被測(cè)板有效介電常數(shù)。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明能夠利用射頻/微波電路設(shè)計(jì)、調(diào)試過(guò)程中使用的基礎(chǔ)設(shè)備及軟件進(jìn)行相關(guān)量測(cè)量，無(wú)需購(gòu)買專門儀器，使用數(shù)據(jù)擬合方法就能獲得雙面敷金屬箔板的有效介電常數(shù)，實(shí)踐成本低、效率高、方便快捷。
文檔編號(hào)G01R27/26GK102426299SQ20111033971
公開(kāi)日2012年4月25日 申請(qǐng)日期2011年11月1日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月1日
發(fā)明者侯照臨, 姜書艷, 謝永樂(lè) 申請(qǐng)人:電子科技大學(xué)