專利名稱:測試儀對多個芯片測試時芯片內(nèi)用戶碼下載方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體生產(chǎn)測試技術(shù)領(lǐng)域,涉及集成電路的后道測試,特 別涉及一種測試儀對多個芯片測試時芯片內(nèi)用戶碼下載方法。
背景技術(shù):
待測試芯片內(nèi)有存儲單元,測試儀通常包括測試控制單元、硬盤、寄
存器、算法圖形發(fā)生器(ALPG)、序列圖形發(fā)生器(SQPG)、數(shù)字波形發(fā)生 器,數(shù)字波形發(fā)生器位于測試儀模擬測試單元中,通常用于進(jìn)行模擬測試。 如圖1所示,測試儀在同時對多個芯片測試時,用戶一般要求每個芯片的 存儲單元里的用戶碼都不同,在進(jìn)行用戶碼的數(shù)據(jù)下載時,現(xiàn)有的方法是 要先從測試儀的硬盤中讀出文件中的用戶碼數(shù)據(jù)傳給測試儀的寄存器,再 將寄存器中的用戶碼傳入ALPG,然后通過運(yùn)行ALPG pattern (算法圖形 發(fā)生器的測試向量),通過多個的芯片測試通道將用戶碼寫入相應(yīng)的待測 芯片的存儲單元。但是由于測試儀的寄存器的位數(shù)限制, 一次一般最多只 能傳64比特,會消耗大量的測試時間。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種測試儀同時對多個芯片測試時 芯片內(nèi)用戶碼下載方法,采用該方法使不同用戶碼數(shù)據(jù)能針對每個芯片做 到快速的下載。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明的測試儀對多個芯片測試時芯片內(nèi)用戶碼下載方法采用的技術(shù)方案是,測試儀包括測試控制單元、硬盤、序列圖 形發(fā)生器、數(shù)字波形發(fā)生器,其特征在于,包括以下步驟
(1) .建立一個數(shù)組對應(yīng)各枚芯片的用戶碼的數(shù)據(jù)文件號;
(2) .讀取數(shù)組,決定調(diào)用哪個數(shù)據(jù)文件;
(3) .將所述數(shù)據(jù)文件中的數(shù)據(jù)進(jìn)行格式轉(zhuǎn)換并存到數(shù)字波形發(fā)生器
中;
(4) .設(shè)定數(shù)字波形發(fā)生器與多個芯片測試通道的鏈接,所述數(shù)字波 形發(fā)生器是個多比特的存儲器,將不同芯片的測試通道鏈接到數(shù)字波形發(fā) 生器的不同比特位;
(5) .通過調(diào)用序列圖形發(fā)生器測試向量將數(shù)字波形發(fā)生器中的數(shù)據(jù) 根據(jù)芯片的存儲單元的寫命令格式寫入到各個相應(yīng)的待測芯片的存儲單 元中。
本發(fā)明的測試儀對多個芯片測試時芯片內(nèi)用戶碼下載方法,將需要下 載的數(shù)據(jù)先作為數(shù)組文件讀入到測試儀的數(shù)字波形發(fā)生器中,此后的每次 數(shù)據(jù)寫入只要直接從數(shù)字波形發(fā)生器中調(diào)用即可,即只需每次裝入wafer (晶圓)的時候讀一次數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)好格式存到數(shù)字波形發(fā)生器中即可,通過 對測試儀模擬測試單元硬件的獨(dú)特運(yùn)用讓測試儀能更快的對芯片中的存 儲單元寫入任意數(shù)據(jù),加快了多芯片同時測試時不同用戶碼數(shù)據(jù)的下載的 速度。
下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施方式
對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明。
圖1是通常的測試儀對多個芯片測試時芯片內(nèi)用戶碼下載方法示意圖2是本發(fā)明的測試儀對多個芯片測試時芯片內(nèi)用戶碼下載方法一 實(shí)施方式示意圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明的測試儀對多個芯片測試時芯片內(nèi)用戶碼下載方法的一實(shí)施 方式如圖2所示,包括以下步驟
1. 在測試儀的測試控制單元的存儲器中建立1個數(shù)組A,對應(yīng)各枚 芯片的用戶碼在測試儀硬盤中的數(shù)據(jù)文件號;
2. 在每次測試時,讀取數(shù)組A,決定調(diào)用哪個數(shù)據(jù)文件;
3. 將此數(shù)據(jù)文件中的數(shù)據(jù)進(jìn)行格式轉(zhuǎn)換并存到數(shù)字波形發(fā)生器中。 數(shù)據(jù)文件一般是16進(jìn)制的數(shù),而數(shù)字波形發(fā)生器只能接受2進(jìn)制格式的 數(shù)據(jù)。因此要將此數(shù)據(jù)文件轉(zhuǎn)換成2進(jìn)制格式,然后再對應(yīng)到數(shù)字波形發(fā) 生器的每個比特上。
4. 設(shè)定數(shù)字波形發(fā)生器與多個芯片測試通道的link (鏈接),數(shù)字 波形發(fā)生器是個多比特的存儲器,將不同芯片的測試通道鏈接到數(shù)字波形 發(fā)生器的不同比特位。
5. 再通過調(diào)用SQPG pattern (序列圖形發(fā)生器測試向量)將數(shù)字波 形發(fā)生器中的數(shù)據(jù)根據(jù)芯片的存儲單元的寫命令格式寫入到各個相應(yīng)的 待測芯片的存儲單元中。
本發(fā)明首先將用戶需要下載的文件放到測試儀的硬盤內(nèi),然后通過程 序控制將此文件讀入到某個數(shù)組中,然后將測試儀中用于模擬測試的數(shù)字 波形發(fā)生器作為一個中間存儲器,把數(shù)組中的數(shù)據(jù)存入數(shù)字波形發(fā)生器中,再通過SQPG pattern調(diào)用數(shù)字波形發(fā)生器中的代碼數(shù)據(jù)并寫到待測 芯片的存儲單元中。
本專利針對多芯片同時測定時,要求每個芯片中寫入的用戶碼數(shù)據(jù)都 不一樣的情況。在進(jìn)行數(shù)據(jù)下載時,將需要下載的數(shù)據(jù)先存儲到測試儀的 數(shù)字波形發(fā)生器中,通過數(shù)字波形發(fā)生器與不同芯片測試通道的link(鏈 接),調(diào)用SQPG pattern將link到的資源里的這些代碼數(shù)據(jù)寫到指定芯 片的存儲單元中,能保證同測時不同的芯片有不同的數(shù)據(jù)。對用戶要求的 大量的不同用戶碼數(shù)據(jù)能針對每個芯片做到快速的下載,并節(jié)省測試時 間。
本發(fā)明的對多個芯片測試時用戶碼數(shù)據(jù)下載的方法主要用于多芯片 同測試時的數(shù)據(jù)下載,通過對測試儀模擬測試單元硬件的獨(dú)特運(yùn)用能讓測 試儀更快的對芯片中的存儲單元寫入任意數(shù)據(jù)。本發(fā)明將需要下載的數(shù)據(jù) 先作為數(shù)組文件讀入到測試儀的數(shù)字波形發(fā)生器中,此后的每次數(shù)據(jù)寫入 只要直接從數(shù)字波形發(fā)生器中調(diào)用即可,即只需每次裝入wafer (晶圓) 的時候讀一次數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)好格式存到數(shù)字波形發(fā)生器中即可,能使測試更加 方便快速。通過本發(fā)明的方法可以解決多
權(quán)利要求
1、一種測試儀對多個芯片測試時芯片內(nèi)用戶碼下載方法,測試儀包括測試控制單元、硬盤、序列圖形發(fā)生器、數(shù)字波形發(fā)生器,其特征在于,包括以下步驟(1). 建立一個數(shù)組對應(yīng)各枚芯片的用戶碼的數(shù)據(jù)文件號;(2). 讀取數(shù)組,決定調(diào)用哪個數(shù)據(jù)文件;(3). 將所述數(shù)據(jù)文件中的數(shù)據(jù)進(jìn)行格式轉(zhuǎn)換并存到數(shù)字波形發(fā)生器中;(4). 設(shè)定數(shù)字波形發(fā)生器與多個芯片測試通道的鏈接,所述數(shù)字波形發(fā)生器是個多比特的存儲器,將不同芯片的測試通道鏈接到數(shù)字波形發(fā)生器的不同比特位;(5). 通過調(diào)用序列圖形發(fā)生器測試向量將數(shù)字波形發(fā)生器中的數(shù)據(jù)根據(jù)芯片的存儲單元的寫命令格式寫入到各個相應(yīng)的待測芯片的存儲單元中。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試儀對多個芯片測試時芯片內(nèi)用戶碼下 載方法,其特征在于,在測試儀的測試控制單元的存儲器中建立一個數(shù)組。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試儀對多個芯片測試時芯片內(nèi)用戶碼下 載方法,其特征在于,各枚芯片的用戶碼數(shù)據(jù)文件存儲在測試儀的硬盤內(nèi)。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試儀對多個芯片測試時芯片內(nèi)用戶碼下 載方法,其特征在于,將所述數(shù)據(jù)文件中的數(shù)據(jù)進(jìn)行格式轉(zhuǎn)換是將數(shù)據(jù)文 件轉(zhuǎn)換成2進(jìn)制格式。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種測試儀對多個芯片測試時芯片內(nèi)用戶碼下載方法,針對多芯片同時測定時要求每個芯片中寫入的用戶碼數(shù)據(jù)都不一樣的情況,在進(jìn)行數(shù)據(jù)下載時,將需要下載的數(shù)據(jù)先存儲到測試儀的數(shù)字波形發(fā)生器中,通過數(shù)字波形發(fā)生器與不同芯片測試通道的鏈接,調(diào)用SQPG測試向量將連接到的資源里的這些代碼數(shù)據(jù)寫到指定芯片的存儲單元中,能保證同測時不同的芯片有不同的數(shù)據(jù)。本發(fā)明的方法通過對測試儀模擬測試單元硬件的獨(dú)特運(yùn)用能讓測試儀更快的對芯片中的存儲單元寫入任意數(shù)據(jù)。
文檔編號G01R31/28GK101458294SQ20071009441
公開日2009年6月17日 申請日期2007年12月10日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月10日
發(fā)明者黃海華 申請人:上海華虹Nec電子有限公司