技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種檢測電路，該檢測電路包括第一檢測線組，包括多條主檢測線，所述第一檢測線組與顯示面板連接；第二檢測線組，包括多條副檢測線，所述第二檢測線組與所述第一檢測線組相對設置；所述第二檢測線組與所述顯示面板連接；配向線組，包括多條配向線，所述配向線組分別與所述第一檢測線組和所述第二檢測線組連接；控制模塊，用于在對所述顯示面板進行檢測時，使得所述第一檢測線組和所述第二檢測線組斷開連接。本發(fā)明的檢測電路，能夠提高顯示面板的不良檢出率，進而提高顯示效果。
技術(shù)研發(fā)人員：曾勉
受保護的技術(shù)使用者：深圳市華星光電技術(shù)有限公司
文檔號碼：201710096246
技術(shù)研發(fā)日：2017.02.22
技術(shù)公布日：2017.05.10