技術(shù)特征：
技術(shù)總結(jié)
主觀式檢眼裝置具備主觀式測定部和客觀式測定部，主觀式測定部主觀地測定上述受檢眼的光學(xué)特性，并具有：向受檢眼投影視標(biāo)光束的投光光學(xué)系統(tǒng)；具有被設(shè)置為左右一對的右眼用矯正光學(xué)系統(tǒng)以及左眼用矯正光學(xué)系統(tǒng)且配置于上述投光光學(xué)系統(tǒng)的光路中變更上述視標(biāo)光束的光學(xué)特性的矯正光學(xué)系統(tǒng)；為包括上述右眼用矯正光學(xué)系統(tǒng)的右眼用光路和包括上述左眼用矯正光學(xué)系統(tǒng)的左眼用光路共有且將經(jīng)上述矯正光學(xué)系統(tǒng)矯正后的上述視標(biāo)光束向上述受檢眼導(dǎo)光的光學(xué)部件，客觀式測定部具有向上述受檢眼的眼底射出測定光并接受來自上述眼底的反射光的測定光學(xué)系統(tǒng)，客觀式測定部經(jīng)由配置于上述測定光學(xué)系統(tǒng)的光路的上述光學(xué)部件客觀地測定上述受檢眼的光學(xué)特性。
技術(shù)研發(fā)人員：滝井通浩;羽根渕昌明;越智永
受保護的技術(shù)使用者：尼德克株式會社
技術(shù)研發(fā)日：2016.11.03
技術(shù)公布日：2017.07.21